рок), что приводит к увеличению электропроводности ПП. У металлов это явление незаметно, так как они обладают огромной электропроводностью из-за высокой концетрации свободных электронов (10 22 см 3). Изменение электропроводности металлов под действием света незначительно.
Внекоторых ПП приборах за счет внутреннего фотоэффекта возникает ЭДС, которую принято называть фотоЭДС. Эти приборы используют как источники электрического тока.
Вопределенных условиях при рекомбинации электронов и дырок в ПП возникают фотоны. Такие приборы могут работать как источники светового излучения. Их называют светодиодами.
При совместном использовании светодиодных источников света и фотоприемников (фотодиодов, фототранзисторов, фототиристоров) получают приборы, называемые оптронами. Их часто выполняют в виде интегральных микросхем.
Фоторезисторы
Фоторезистор – это ПП прибор, сопротивление которого изменяется под действием света (рис. 8.3).
2
Ф3
Ф



BL1 1 



a
R1

+
Е
-

б
Uвых
Рис. 8.3. Устройство (а) и схема включения фоторезистора (б): 1 – диэлектрическая пластина; 2 – тонкий слой фоточувствительного ПП; 3 – контакты
Если световой поток Ф 0, то фоторезистор обладает довольно боль-
шим (темновым) сопротивлением RT 104 107 Ом. Под действием светового облучения с достаточной энергией фотонов в ПП образуются подвижные «электрон-дырки», а сопротивление прибора уменьшается. Фоторезисторы обладают линейной вольт-амперной характеристикой (рис. 8.4). Кратность изменения сопротивления фоторезисторов под действием света достигает 500.
Основные недостатки: значительная зависимость сопротивления от температуры и сравнительно большая инерционность из-за медленной ре-
101
I 
Ф2 Ф1>Ф2>Ф3>0
Ф1
Ф3 Ф=0
0 
U
комбинации электронов и дырок после прекращения облучения. Поэтому фоторезисторы используют там, где интенсивность светового излучения может меняться с частотой не выше нескольких сотен герц.
В чистых ПП энергия фотона, поглощаемая валентным электроном, должна быть больше ширины запрещенной зоны Wз . В примес-
Рис. 8.4. Вольт-амперная характерис- |
ных ПП для ионизации атомов при- |
тика фоторезистора |
меси необходима меньшая энергия. |
|
Поэтому для изготовления фоторе- |
зисторов используют в основном примесные ПП: сернистый кадмий, сернистый свинец, селенистый кадмий, селенистый теллур и др.
Фотодиоды
Фотодиодом (ФД) называют ПП диод, обратный ток которого изменяется под воздействием света. Он имеет двухслойную структуру, содержащую один p–n-переход (рис. 8.5) и изготовленную на основе германия, кремния, арсенида галлия и др. ФД получили разнообразное применение в измерительной аппаратуре, вычислительной технике, автоматике. Различают два основных режима работы ФД: фотодиодный (с внешним источником питания) и фотогальванический, или фотогенераторный (без внешнего источника питания).
n |
Al |
|
|
А |
BL1 |
|
p |
|
|
|
Ф |
|
К |
б |
а
Рис. 8.5. Фотодиод: а – устройство; б – условное графическое и позиционное обозначение в схемах
Работа в фотодиодном режиме
При обратном смещении p–n-перехода через неосвещенный ФД протекает небольшой обратный ток, называемый темновым током IT . Этот ток
102
создается движением неосновных носителей, преодолевающих потенциальный барьер при данной температуре. Под воздействием света в n-области ПП образуются пары «электрон – дырка», что приводит к увеличению обратного тока (рис. 8.6).
Ф |
BL1 |
|
p_n-переход |
|
|
_ |
Iф |
|
|
|
|
|
|
|
|
- |
|
Е |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
- |
|
+ |
Uобр RH |
uвых |
_ |
p |
- |
|
|
|
|
- |
|
|
|
|
Е |
|
- |
|
|
|
+ |
- |
- |
|
|
|
- |
||
|
а |
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
2 |
+ |
|
Iф |
+ |
|
|
+ ++ |
n |
uвых |
+ + + |
|
|
+ |
|
|
Uобр
RH
б
Рис. 8.6. Работа фотодиода в фотодиодном режиме: а – схема включения ФД;
б– перемещение носителей зарядов в ФД (1 – неосновные носители, 2 – образование пар «электрон – дырка» под действием света)
Семейство вольт-амперных характеристик ФД IФ f Uобр при
Ф const показано на рис. 8.6. При Ф 0 (затемненный режим) характеристика имеет такой же вид, как обратная ветвь ВАХ обычного диода. С ростом Ф растет обратный ток через ФД IФ .
Величина IФ слабо зависит от Uобр , так как количество носителей за-
рядов, проходящих через p–n-переход в обратном направлении, определяется в основном величиной светового потока Ф. Однако увеличение обратного напряжения может привести к пробою фотодиода.
Световая характеристика ФД – это зависимость фототока от светового потока при постоянном напряжении на ФД (см. рис. 8.6).
IФ f Ф при Uобр const.
Темновой ток IT весьма мал, особенно у кремниевых фотодиодов. Световые характеристики ФД практически линейны, причем их наклон мало зависит от приложенного напряжения Uобр.
Спектральная характеристика показывает зависимость спектральной чувствительности S от длины волны светового излучения (рис. 8.7). Кремниевый ФД имеет максимум чувствительности в области красного и
103
инфракрасного излучения. Германиевые ФД чувствительны к более широкому спектру световых волн и могут полностью перекрывать по чувствительности видимую и инфракрасную области спектра.
Uобр, В 8 |
4 2 |
0 |
Iф Uобр=15 В |
Ф=0 |
|
||
|
|
|
|
Ф1 |
|
40 |
Uобр=1 В |
|
|
|
Ф2>Ф1 |
Ф2 





60
Iт
Ф
Iф, мкА 0
а |
б |
Sl/Sl max
1








Si

Ge 0,75





0,5
0,25
l
0 0,4 0,8 1,2 мкм
в
Рис. 8.7. Характеристики фотодиода: а – семейство вольт-амперных характеристик в фотодиодном режиме; б – световые характеристики; в – спектральные характеристики германиевого и кремниевого ФД
Работа фотодиода в фотогальваническом режиме
При отсутствии света и разомкнутой цепи нагрузки на p–n-переходе фотодиода создается потенциальный барьер (рис. 8.8, а). Под действием света в n-области генерируются пары «электрон – дырка». Двигаясь хаотически во всех направлениях, часть образовавшихся дырок подходит к переходу, где их захватывает поле потенциального барьера и перебрасывает в p-область, то есть идет экстракция дырок. Электроны остаются в n-области, куда их отталкивает поле барьера. Таким образом, в p-области происходит накопление дырок, в n-области – электронов, а на зажимах ФД возникает фотоЭДС EФ , величина которой нелинейно зависит от светово-
го потока Ф (рис. 8.8, б).
104
Потенциальный |
Ф |
Генерация пар |
|
|
|
|||
барьер р |
n - |
|
|
|
||||
|
"электрон |
дырка" |
|
|
|
|||
перехода |
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
- |
|
|
Ф |
_ BL1 |
|
|
|
|
- |
|
|
|
RH |
||
|
|
- |
|
|
|
|
Uф |
|
+ |
|
- |
|
|
|
|
Iф |
|
|
- |
|
|
|
+ |
|
||
|
p |
- |
n |
|
|
|
|
|
Iф |
|
- |
|
|
|
|
в |
|
|
Uф |
|
|
|
|
|
||
|
|
RH |
|
|
|
|
|
|
|
а |
мА, Iф |
Т=Т1 |
|
|
|
|
|
|
||
|
|
20 |
Линия предельного значения |
||
|
|
|
|||
|
|
Еф2,Т2 |
|
|
фотоЭДС |
|
|
10 |
(контактной разности потенциалов) |
||
В |
|
Еф1,Т2 |
|
|
Uф |
|
0 |
|
|
||
-60 |
-30 |
|
1,0 |
1,5 В |
|
|
|
|
Еф2,Т1 |
|
|
Т, Ф=0 |
|
|
Еф1,Т1 |
|
|
T2, Ф=0 |
|
-10 |
Нагрузочная линия |
||
Т1, Ф1 |
|
|
|
|
фотодиода |
T2, Ф1 |
|
|
Iкз при T=T1,Ф=Ф2 |
||
Т1, Ф2 |
|
|
Iкз приT=T2,Ф=Ф2 |
||
T2, Ф2 |
|
-20 |
Т >Т |
1 |
|
|
|
2 |
|
||
|
|
мкА |
Ф2>Ф1 |
||
Iкз при T=T2, Ф=Ф1
Iкз при T=T1, Ф=Ф1
б
Рис. 8.8. Работа фотодиода в фотогальваническом режиме: а – разделение возбужденных светом носителей заряда под действием поля р–п-перехода; б – вольт-амперная характеристика фотодиода при различной температуре T1 и T2 ; в – схема включения фотодиода; в – нагрузочная характеристика ФД (Iкз1, Iкз2 , Iкз3, ЕФ1, ЕФ2 , ЕФ3
– токи короткого замыкания и фотоЭДС при световых потоках Ф1, Ф2 , Ф3 )
При подключении нагрузки в цепи ФД потечет ток IФ , то есть происходит непосредственное преобразование световой энергии в электрическую. При коротком замыкании ФД, когда сопротивление нагрузки Rн 0, ток ФД Iкз линейно растет с ростом Ф.
105