Материал: 2072

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

выделением квантов света – фотонов. В большинстве ПП, в том числе в германии и кремнии, выделяемая при рекомбинации энергия в основном превращается в тепловую, а энергия излучения мала. Кроме того, излучение происходит в невидимой области спектра. В некоторых ПП, имеющих большую ширину запрещенной зоны 0 и содержащих, например, арсенид галлия ( 0= 1,5 эВ), фосфид галлия ( 0= 2,2 эВ), рекомбинация сопровождается выделением квантов света в видимой части спектра.

 

Рекомбинация и излучение

Квант света

Квант света

VD1

 

+

-

+

+

-

+

-

+

К

А

+

-

+

 

+

+

 

 

 

 

+ +

-

++

 

 

p+

 

 

Iпр

 

-

 

 

n

 

 

 

 

 

 

+

UАК

 

 

 

а

Ф

К

б

Форма и размер СД типа АЛI02А

Линза

n p

А

в

4

К

г

3

А

Рис. 8.14. Светодиод: а – структура; б – условное графическое и позиционное обозначение; в, г – конструкция

При подаче на диод прямого напряжения снижается потенциальный барьер, и через pn-переход протекает за счет инжекции большой ток. В результате n-область вблизи перехода насыщается дырками, а p-область

– электронами. Происходит их интенсивная рекомбинация, сопровождаемая излучением. Интенсивность излучения пропорциональна количеству

111

инжектированных зарядов. Чтобы получить достаточный для практического использования световой поток, требуется создать прямой ток СД в пределах 5 – 100 мА.

При рекомбинации электронов и дырок происходит переход электрона из зоны проводимости в валентную зону. В результате энергия электрона уменьшается на величину Wз (рис. 8.15) и выделяется квант энергии, равный Wз . Но внутри кристалла этот квант не поглощается, так как его энергии недостаточно для поглощения другими атомами. Чтобы валентные электроны перешли в зону проводимости, требуется энергияW Wa 2 W , так как нижние разрешенные уровни зоны проводимости заняты, а верхние разрешенные уровни валентной зоны свободны.

W

WЗ

W

Занятые уровни в зоне проводимости

Рекомбинация

Свободные уровни (дырки) валентной зоны

Рис. 8.15. Энергетическая диаграмма светодиода

Поэтому квант энергии выделяется из кристалла в пространство в виде фотонов. Длина волны излучения ch Wз зависит от материала СД. Различные типы СД могут дать красное, оранжевое, желтое, зеленое, голубое свечение и инфракрасное излучение, то есть перекрывают видимую часть спектра. Длина волны излучения может лежать в пределах

0,45 – 0,9 мкм.

Отношение числа излученных во внешнее пространство фотонов к числу инжектированных через pn-переход зарядов называется квантовой эффективностью излучения или квантовым выходом. Квантовый выход СД составляет 0,1 – 0,3 %.

Характеристики светодиодов

Основными характеристиками СД являются: вольт-амперная, яркостная и спектральная (рис. 8.16).

112

мА Iпр

В

 

 

Зеленый СД

 

 

B

4

 

 

 

Желтый СД

 

 

 

Bmax

3

 

 

1

Красный СД

 

 

 

2

 

 

0,5

 

1

 

 

 

U

Iпр

 

l

 

 

0 0,5 1,0 1,5

В 0

Iпор

0

0,5 0,6 0,7 0,8 мкм

а

 

б

 

в

 

Рис. 8.16. Характеристики светодиода:

а – вольт-амперная;

б – яркостная; в – спектральная

ВАХ светодиода имеет такой же вид, как и у обычного диода. Отличается большим падением напряжения в прямом направлении. Яркостная (люкс-амперная) характеристика – зависимость яркости излучаемого диодом света B от величины протекающего через него прямого тока Iпр (см.

рис. 8.16) B f Iпр . Излучение СД становится заметным при Iпр Iпор. Спектральная характеристика B f зависит от типа материала. Свето-

диоды имеют высокое быстродействие: постоянная времени СД составляет

10 7 10 9 с.

9.СИЛОВЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ

9.1.Биполярные транзисторы с изолированным затвором

Биполярные транзисторы с изолированным затвором (БТИЗ) выполнены как сочетание входного униполярного (полевого) транзистора с изолированным затвором (ПТИЗ) и выходного биполярного npn-транзистора (БТ). Имеется много различных способов создания таких приборов, однако наибольшее распространение получили приборы Insulated Gate Bipolar Transistor (IGBT), в которых удачно сочетаются особенности полевых транзисторов с вертикальным каналом и дополнительных биполярных транзисторов.

Структура транзистора IGBT (рис. 9.1, а) состоит из двух транзисторов VT1 и VT2 и имеет глубокую внутреннюю положительную обратную связь, так как ток коллектора транзистора VT2 влияет на ток базы транзистора VT1, а ток коллектора транзистора VT1 определяет ток базы транзистора VT2. Принимая, что коэффициенты передачи тока эмиттера транзисторов

113

VT1 и VT2 имеют значения 1 и 2 соответственно, найдем Iк2 Iэ2 2 ;

Iк1 Iэ1 1 и Iэ Iк1 Iк2 Ic.

Из последнего уравнения можно определить ток стока полевого тран-

зистора:

 

Ic Iэ 1 1 2 .

(9.1)

Коллектор Iэ2=Iк

Ic

VT

Затвор

Ic

uзэ

А Iк

20

15

10

5

0 2 4

 

VT2

R1

Iк2

 

Iк1

uкэ

VT1

 

Iэ1

R2

Iэ

Эмиттер

а

 

8 В

 

7

 

6

 

Uзэ=5

6 8

Uкэ

В

б

Рис. 9.1. Схема замещения транзистора типа IGBT (а) и его ВАХ (б)

114

Ток стока Ic можно определить через крутизну S и напряжение Uз на затворе, используя выражение Ic SU . Определим ток IGBT транзистора:

Iк Iэ Ic

1 1 2 SUз

1 1 2 SэUз ,

(9.2)

где Sэ S 1 1 2 – эквивалентная крутизна биполярного транзистора с изолированным затвором.

Очевидно, что при 1 2 1 эквивалентная крутизна значительна. Регулировать значения 1 и 2 можно изменением сопротивлений R1 и R2 при изготовлении транзистора. На рис. 9.1, б приведены вольтамперные характеристики IGBT-транзистора. Так, например, для транзистора типа BUP 402 получено значение крутизны 15 А/В.

Другим достоинством IGBT транзистора является значительное снижение падения напряжения на замкнутом ключе. Последнее объясняется тем, что последовательное сопротивление R1 канала шунтируется двумя

насыщенными транзисторами 1 и 2, включенными последовательно. Схематическое изображение этого транзистора приведено на рис. 9.2. Это обозначение подчеркивает его гибкость.

АIк

Коллектор

10

Uзэ=15 B

ОБР при tи=10 мкс

 

 

 

 

 

 

 

Затвор

 

 

 

 

 

 

 

 

 

5

 

 

 

 

 

 

 

Эмиттер

 

 

 

 

 

 

 

Uкэ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

200

400

600

800

1000

1200

В

а

 

 

 

 

б

 

 

 

Рис. 9.2. Схематическое изображение (а) и область безопасной работы (б) транзистора БТИЗ

Быстродействие БТИЗ несколько ниже быстродействия полевых транзисторов, но значительно выше быстродействия биполярных транзисторов. Исследования показали, что для большинства транзисторов типа IGBT времена включения и выключения не превышают 0,5…1,0 мкс.

115

Источник: https://studfile.net/preview/16408129/