Материал: Гласкер, Дж. Анализ кристаллической структуры

ния 1924 г.). Гл. 1. История. Описание эксперимента Лауэ, впер­ вые опубликованное в 1915 г.

21. [17]. Lonsdale К., 1949. Гл. 1. Исторический очерк экспе­ риментов фон Лауэ и Брэггов, стр. 7— 18. Подчеркнуто значение эксперимента фон Лауэ как примера оригинального и фундамен­ тального исследования. Приведены лауэграммы сульфата меди.

Физика дифракции

22. Jenkins F. A., White Н. Е. Fundamentals of Optics. McGraw-Hill Book Co., New York, Ch. 11, 12, 13, pp. 191—260; Ch. 15, 16, 17, pp. 288—352, 1957. Изложение физических основ дифракции света. Рассмотрены: свет как волновое движение, су­ перпозиция волн, интерференция двух пучков света; дифракция Фраунгофера от одного отверстия, двойной щели и дифракцион­

ной решетки.

23. Фейнман Р., Лейтон Р., Сэндс М., Фейнмановские лекции по физике, т. 1, вып. 3, гл. 29, 30, 31, стр. 47— 100, «Мир», М., 1967. Обсжудение интерференции, дифракции и рефракции. Пока­ зано, что при дифракции небольшое отверстие можно рассматри­ вать как набор источников, расположенных в определенном порядке.

Рентгеновские лучи

действия с материей.

25. Azdroff L. V., Elements of X-ray Crystallography.

новских лучей. Эмиссия рентгеновских лучей, стр. 103— 130. По­ дробно обсуждено получение рентгеновских лучей и их свойства.

Дифракция в кристаллах

26. Холден А., Что такое ФТТ? Основы современной физики твердого тела. «Мир», М., 1971. Гл. 4. Порядок, стр. 54—73. В главе обсуждены волновая теория рентгеновских лучей и атом­ ная теория кристаллов,

27. [17] Lonsdale К., 1949. Гл. 5. Рассеяние рентгеновских лу­ чей атомами, стр. 104— 108. Гл. 6. Формулы интенсивности, стр. 116— 119. Приведены формулы интенсивностей дифрагирован­ ных пучков.

28.Джеймс Р. Оптические принципы дифракции рентгенов­ ских лучей. М., ИЛ, 1950. Гл. 1. Теория дифракции, стр. 7—29. Математический анализ геометрической картины дифракции на простой пространственной решетке, основанный на использовании векторов.

29.[24]. Azaroff L. V., 1968. Гл. 8. Рассеяние рентгеновских

лучей атомами, стр. 155— 184; Гл. 9. Дифракция рентгеновских лучей в идеальных кристаллах, стр. 186—226. Рассмотрены коэф­ фициенты в формуле для интенсивностей.

6*. [1*]. Китайгородский А. И., 1950. Гл. 3. Дифракция,

стр. 203—388. Обсуждены вопросы дифракции рентгеновских лу­ чей в кристаллах, атомные и структурные факторы, поглощение и другие вопросы.

7*. [2*]. Бокий Г. Б., Порай-Кошиц М. А., 1964, Гл. 9. Ди­ фракция, стр. 175— 191.

8*. Шишаков Н. А., Основные понятия структурного анализа, изд. АН СССР, 1961, Гл. 2. Основы теории рассеяния рентгенов­ ских лучей, стр. 31—98.

9*. Вустер У., Диффузное рассеяние рентгеновских лучей п кристаллах. ИЛ, М., 1963. Гл. 1. Общее рассмотрение, стр. 19—98.

Дифракция и обратная решетка

30. Klug Н. Р., Alexander L. Е., X-ray Diffraction Procedure for Polycrystalline and Amorphous Materials. John Wiley and Sons, New York, 1954. Гл. 3. Фундаментальные принципы дифрак­ ции рентгеновских лучей, стр. 111— 125. При выводе условий дифракции использовано понятие сферы отражения на обратной решетке.

31. [17]. Lonsdale К., 1949. Гл. 4. Что такое обратная решет­ ка? стр. 84—94. Описаны сфера отражения и обратная решетка.

10*. Гинье А., Рентгенография кристаллов. Физматгиз, М. 1961. Гл. 3. Теория дифракции, стр. 75— 143. Подробно обсуждены обратная решетка, сфера Эвальда и условия дифракции рентге­ новских лучей в кристаллах.

11*. [5*]. Жданов Г. С., 1940. Часть II. Теория интерференции рентгеновских лучей, стр. 133— 165.

Фурье-преобразование и его обращение

32. Taylor С. A., Lipson Н., Optical Transforms. Their Prepa­ ration and Application to X-ray Diffraction Problems, G. Bell and Sons, London, 1964. Эти книгу стоит по меньшей мере полностью просмотреть. Одна из лучших иллюстраций, по которой модечр

получить представление, каким проблемам посвящена книга, —

вкниге рис. 9.

33.Amoros J., Amoros М., Molecular Crystals, Their Trans­

показано, каким образом можно получить дифракционную кар­ тину двумерной решетки, если «размножить» дифракционную кар­ тину от одного маленького диска, помещенного в какой-либо точке обратной решетки; на втором рисунке показана дифрак­

Приготовление кристаллов

35. Holden A., Singer Р., Crystals and Crystal Growing, An­ chor Books, Doubleday and Co., Garden City, New York, 1960.

их свойства, стр. 62—82. Некоторые методы выращивания кри­ сталлов, выбора кристаллов, подходящих для рентгеновских ис­ следований; механическая обработка монокристалла с целью по­ лучения простых поправок на поглощение; установка кристалла

вкамере.

37.[2]. Holmes К. С., Blow D. М., 1966. Приготовление кри­

сталлических образцов, стр. 174— 179. Методы получения кри­ сталлов белков и способы их укрепления в капиллярах, так чтобы они находились в контакте .с маточным раствором.

38.Strickland-Constable R. F., Kinetics and Mechanism of Crystallization. Academic Press, New York, 1968. Гл. 1. Общее введение в предмет, стр. 7—38. Обсуждение принципов роста кристаллов из расплавов, паров и растворов.

39.Rydman R., Topics in Chemical Instrumentation X-ray

Diffraction Analysis. J. of Chemical Education, Vol. 44, 1967. I. Безопасность и источники, стр. А7—А43. II. Рентгеновские трубки и монохроматизация, стр. А99—А122. III. Детекторы, стр. А187—А212. IV. Порошковые камеры и техника, стр. А289— А313. V. Техника монокристалла, стр. А399—А436. VI. Метод монокристалла и другие методы, стр. А499—А530. Исчерпываю­ щий обзор экспериментальных методов и приборов, используе­ мых на различных этапах рентгеноструктурного анализа.В связи с различными экспериментальными методами обсуждены и неко­ торые теоретические положения.

40. Woolfson М. М., X-ray Crystallography. Cambridge Univ. Press, Cambridge, 1970. Гл. 5. Экспериментальное получение ди­ фракционных данных, стр. 125—166. Описаны методы регистрадии дифракционной картины.