СОДЕРЖАНИЕ
Принципы классификации полупроводниковых диодов
Классификация и основные особенности транзисторов
Система обозначений транзисторов
МДП - структура с индуцированным каналом
Расчет входной и выходной характеристики транзистора
Расчет и построение входных характеристик транзистора
Расчет концентрации не основных носителей
Коэффициент переноса тока через базу
Статический коэффициент передачи тока в схеме с ОБ
Статический коэффициент передачи тока в схеме с ОЭ
Расчет барьерной емкости коллекторного перехода
Дифференциальное сопротивление эмиттерного перехода
Расчет барьерной емкости коллекторного перехода рассчитывается по формуле (2.21).

(2.21)
, (2.22)
где U0 - пороговое напряжение перехода рассчитывается по формуле (2.23).

В, (2.23)
И получаем барьерную емкость коллекторного перехода Ф.
Для вычисления h - параметров используются характеристики транзистора полученные с использованием модели Мола-Эберса. Выходные характеристики транзистора представлены на рисунке 26

Рисунок 26 - Выходные характеристики транзистора
Выходные характеристики транзистора рассчитываются по формулам (2.24) и (2.25) и представлены на рис.2.12.
UКЭ =EK - IKRH; (2.24)
EK = IKRH + UКЭ, (2.25)
Подставив значения в формулу (2.25) получим ЕК = 4,43.

; (2.26)

; (2.27)

; (2.28)

; (2.29)

Рисунок 27 - Входные характеристики транзистора
Используются формулы связи между параметрами транзистора при различных включениях.

; (2.30)

; (2.31)

; (2.32)

; (2.33)
Дифференциальное сопротивление эмиттерного перехода рассчитывается по формуле (2.34).

, См (2.34)

, Ом (2.35)
Расчет дифференциальной емкости эмиттерного перехода рассчитывается по формуле (2.36).

; (2.36)
При Uэ = const, концентрация носителей в базовой области становится функцией коллекторного напряжения:
Таблица 2.4
Значение Uk
|
UK |
|||||
|
0 |
0,2 |
0,4 |
0,8 |
1,2 |
1,4 |

Рисунок 28 - Зависимости концентраций в базовой области: 1 -зависимости от ширины базы, 2 - как функция от приложенного UK
Угол рассчитывается по формуле (2.37).
(2.37)
Частота рассчитывается по формуле (2.38).

(2.38)
где щ изменяется 0 - 1000 Гц и считается по формуле (2.39).
(2.39)
Частота рассчитывается по формуле (2.40).

(2.40)
Значения щ и ц высчитанные по формулам: (2.38), (2.37) и (2.39), результаты вычислений приведены в таблице 2.5.
Таблица 2.5
Значения щ и ц
|
щ |
ц0 |
|
0,1 |
-0,42 |
|
10 |
-5,465 |
|
100 |
-21,465 |
|
200 |
-62,34 |
|
500 |
-80 |
|
1000 |
-85,2 |

Рисунок 29 - ФЧХ

Рисунок 30 - АЧХ
По таблице 2.4 строится график зависимости частоты от угла.
При использовании тех же частот:

(2.41)

(2.42)
В ходе выполнения курсовой работы были рассчитаны параметры и характеристики диода, изображена прямая ВАХ диода, на которой показана зависимость тока диода от напряжения диода. Рассчитан максимальный прямой ток диода I пр max=14 А. Представлена обратная ветвь ВАХ- обратный ток слабо зависит от обратного напряжения, рабочее обратное напряжение Uобр=98,5 В.
Рассчитан МДП - транзистор, изображены ВАХ передаточной и ВАХ в триодной области. Unop=1,5 В - пороговое напряжение МДП - транзистора. Передаточная характеристика характеризует зависимость тока стока Iс от напряжения затвор-исток Uзи (при UСИ = const) - зависимость имеет экспоненциальный вид. На графике ВАХ в триодной области видно участок резкого изменения тока и участок с малым изменением тока (область насыщения). Можно с уверенностью сказать, что для МДП - транзистора параметром является напряжение на затворе, следовательно, прибор управляется напряжением.
В ходе данной курсовой работе были рассмотрены свойства МДП - структуры, а также типы и устройство полевых транзисторов, рассмотрены характеристики МДП-транзистора, определено влияние типа канала на вольт - амперные характеристики прибора, рассмотрены основные свойства и параметры полупроводника арсенида галлия, рассчитаны параметры и характеристики МДП-транзистора.
В результате расчетов параметров и характеристик полупроводниковых приборов были получены результаты, не противоречащие справочным данным.