Материал: Выращивание эпитаксиальных слоев арсенида галлия методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений Описание лабораторной работы

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

Рис. 1. Сопряжение атомных плоскостей на границе с двух кристаллов а — все атомные плоскости, кроме крайних, оборваны, но не искривлены;

б — все плоскости, кроме одной, замкнуты; край единственной оборванной плоскости образует дислокацию несоответствия (показана жирной линией)

в - рентгенотопографическое изображение дислокаций несоответствия в пленке

Механизм Фольмера — Вебера (третья строка табл. 1) - характерный для слабой адгезии кристалла на подложке. В этом случае работа образования зародыша на подложке больше, чем при других механизмах роста, и может даже приближаться к работе гомогенного зарождения при нулевой адгезии (α s << 2α ), когда ∆ α ≈ 2α . Соответственно роль неоднородностей, снижающих барьер зарождения, для механизма Фольмера-Вебера наибольшая. Слабая адгезия ведет также к менее выраженной связи ориентации кристалла-конденсата с подложкой, что проявляется в образовании для одной и той же пары кристалл — подложка нескольких эпитаксиальных соотношений, реализующихся в разных условиях осаждения, а также одновременно.

II. Методика и технология выращивания эпитаксиальных слоёв GaAs МОС-гидридным методом

2.1. Физико-химические основы ГФЭ МОС

Особенность метода состоит в том, что в эпитаксиальном реакторе создается высокотемпературная зона, в которую поступает газовая смесь, содержащая разлагаемое соединение. В этой зоне протекает реакция и происходит выделение и осаждение вещества на подложке, а газообразные продукты реакции уносятся потоком газа-носителя. Для получения соединений AIIIBV в качестве источника элемента III группы используют

6

металлоорганические соединения (например, триметилгаллий (ТМГ) для синтеза GaAs и триметилиндий (ТМИ) для InP или InGaP). В качестве источников элементов V группы служат газы арсин и фосфин.

Суммарной реакцией формирования арсенида галлия в МОС-гидридном процессе является реакция типа

Ga(CH3)3+AsH3→ GaAs(тв)+3CH4↑ ,

которая протекает с образованием множества промежуточных соединений. Как правило, процесс пиролиза (разложения) проводят при атмосферном давлении в потоке водорода, реже - при пониженном давлении.

Процесс разложения молекулы ТМГ протекает в несколько стадий, при которых последовательно удаляются алкильные группы. Введение водорода приостанавливает полный распад метильных радикалов (-CH-) и приводит к образованию метана:

2CH3+H2→ 2CH4

Это обстоятельство является благоприятным фактором, снижающим концентрацию свободного углерода в твердом осадке. Этому способствует и пиролиз (термическое разложение) арсина, в результате которого выделяется химически активный атомарный водород.

В зависимости от места, где происходит разложение соединений, возможны два механизма пиролиза – гомогенный и гетерогенный.

При гетерогенном механизме пиролиза химические реакции разложения соединений и синтеза полупроводникового материала происходят на поверхности подложки. Поверхность подложки достигают как молекулы, так и радикалы галлия (или индия). Адсорбируясь на поверхности подложки, они вступают в гетерогенную реакцию с адсорбированными молекулами арсина

Ga(CH3)3(адс)+AsH3 (адс)→ GaAs(тв)+CH4↑

или

GaCH3(адс)+As(адс)+H(адс)→ GaAs(тв)+CH4↑ .

При гомогенном механизме пиролиза все химические реакции происходят в газовой фазе: соединения ТМГ и AsH3 образуют комплексы, которые при нагреве вследствие перемешивания газа при движении вдоль реактора образуют кластеры GaAs. Последние диффундируют к поверхности подложки, адсорбируются и встраиваются в кристаллическую решетку.

Преобладание того или иного механизма пиролиза зависит от конкретных условий: конструкции реактора, скорости газового потока, концентрации исходных веществ и материала подложки.

7

При изучении сложного процесса гетерогенных химических реакций разделяют перенос вещества в газовой фазе (диффузионная стадия) и процессы на растущей поверхности (кинетическая стадия). Стадия переноса включает доставку реагирующих веществ к растущему кристаллу и удаление продуктов реакции в газовую фазу. К процессам на поверхности относятся адсорбция реагирующих веществ, их химическое взаимодействие на поверхности, т.е. собственно реакция, и десорбция продуктов реакции.

При сравнительно низких (~500 0С) температурах, когда скорость химических реакций невысока, скорость роста лимитируется термическим разложением химических соединений на поверхности, процесс протекает в кинетическом режиме. При сравнительно высоких температурах (>600 0С) происходит переход к диффузионному режиму, в котором скорость реакции ограничена скоростью доставки разлагаемых соединений к подложке.

2.2. Влияние условий роста на структуру и морфологию слоев.

Основными морфологическими элементами ростового рельефа слоев арсенида галлия являются ступени роста и фигуры роста. Образование фигур роста следует рассматривать как нарушение слоевого механизма роста, характерного для основной матрицы пленки.

При низких температурах роста (Тр) эпитаксиальные слои имеют, как правило, большие нарушения структуры и плохую морфологию поверхности. Повышение температуры подложки от 500° С до 670° С приводит к их улучшению. Это связано с несколькими факторами: увеличением скорости поверхностной диффузии реагентов или их комплексов, усилением десорбции метильных групп с поверхности растущего слоя и увеличением скорости пиролиза арсина. При дальнейшем увеличении Тр структура и морфология эпитаксиального слоя ухудшается вследствие интенсивной десорбции атомов Ga и As с его поверхности.

Важную роль оказывает влияние отношения As/ТМГ (γ ). При больших значениях γ и высоких температурах роста вхождение фоновой примеси в слои GaAs определяется вакансиями галлия. При малых значениях γ и низких температурах роста – вакансиями мышьяка. Поэтому при больших γ и высоких Тр слои растут n-типа проводимости, в противоположном случае – p-типа проводимости. Таким образом, вакансии мышьяка, капли галлия или комплексы Ga и As на поверхности роста ответственны за высокую плотность фигур росёта и дислокаций при малых значениях γ и низких Тр.

8

2.3. Технологическая установка для эпитаксии слоев и методика эпитаксиального выращивания пленок

Выращивание эпитаксиальных слоев арсенида галлия производится на установке, схема которой представлена на рис. 3. Установка включает в себя следующие основные части:

-реактор, в котором располагается пьедестал с подложкой,

-систему напуска реагентов, обеспечивающую их дозированную подачу в реактор,

-систему откачки и утилизации реагентов.

Реактор представляет собой кварцевую горизонтально расположенную трубу диаметром 50 мм и длиной 0.5 м. Нагрев подложки, размещенной внутри реактора на графитовом наклонном пьедестале, осуществляется внешним резистивным нагревателем. При таком способе нагрева создаются изотермические условия для нагрева газовой смеси в зоне осаждения. Чтобы обеспечить однородность растущего слоя по всей поверхности, в процессе роста подложка вращается вокруг оси, перпендикулярной к ней.

Система напуска реагентов включает в себя баллоны с водородом, арсином, фосфином, термостатируемые барбатеры с триметилгаллием, триметилиндием, блок диффузионной очистки водорода, стабилизаторы давления газов (редукторы), регуляторы расхода газов, а также запорные краны и краны тонкой регулировки потока газов. Основные детали системы напуска реагентов изготовлены из нержавеющей стали.

Изменение концентрации ТМИ и ТМГ в реакторе осуществляется путем изменения потока водорода через соответствующий барбатер. Парциальное давление этих соединений внутри барбатера определяется температурой термостатирования барбатера.

Для вакуумирования реактора применяется форвакуумный насос типа 2НВР-5ДМ, обеспечивающий остаточное давление атмосферных газов порядка 10-2мм.рт.ст.

Подготовка реактора. Перед экспериментом кварцевый реактор травят в смеси азотной и плавиковой кислот с целью удаления слоя арсенида галлия и мышьяка, осажденного на стенках реактора в процессе предыдущего синтеза, после чего тщательно промывают бидистиллированной водой и ацетоном марки ОСЧ. Затем реактор устанавливается на установку, откачивается форвакуумным насосом до давления 10-2

мм.рт.ст. и отжигается в потоке водорода при температуре, на 100° С превышающей температуру роста, в течение часа с целью удаления остаточных загрязнений, а также следов воды и ацетона.

9

Водородная

очистка

Р

Б

Р

Б

Р

Б

PH3

AsH3

Система

откачки

ТМГ

ТМИ

Управление

печью

CCl4

ДЭГ

Рис. 2. Схема установки МОС-гидридной эпитаксии при атмосферном давлении.

Регул.

 

 

расхода

 

 

газа

Барбатёр. Эл. маг. Редуктор.

Фильтр. Вентиль Лазер.

(РРГ).

клапан.

.

 

 

 

Подготовка подложек. Пластины арсенида галлия, использующиеся в качестве подложек, подвергаются глубокому химическому полирующему травлению для удаления

10

Источник: https://studfile.net/preview/16721575/