Материал: Качанов Н.Н. Рентгеноструктурный анализ (поликристаллов) практическое руководство

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

25. Миркин Л. И., «Заводская лаборатория» № 5, № 24, 1958. (Обзор по применению ионизационного метода для определения текстур, фазового анализа и т. д.)

26. К 1	u g Н. Р., Alexander L. Е., X-ray diffraction procedures,
New York,	1954.

27.X-ray diffraction by polycrystalline materials, ed. Peistg, London, 1955.

28.	В а г г e t t C. S., Structure of Metals, New York,	1952.
29.	Bunn C. W., Chemical Crystallography, London,	1945.

30.T а у 1 о r A., An Introduction to X-ray metallography, New York, 1945.

31.H e n г у N. F. M., L i p s о n H., W о о s t e r W. A., The Interpreta

tion of	X-ray diffraction Photographs,			London. 1951.
32.	S p г о u 1 1	W. T.,	X-rays in	Practice,	New York, 1946.
33.	Cl ar kA.,	Applied	X-rays,	New York,	1955.
34.	G locker R., Materialprufung mit Rontgenstrahlen, Berlin 1949.

35.Guinier A., Radiocristallographie, Paris, 1945.

36. S t r a u m a n i s	M., J e v i n s, A. Die Prazisionbestimmung von
Gitterkonstanten nach der	assymetrischen methode, Berlin, 1940.

37.Davey, W. P. A. Study of Crystal Structure and Its Applications, New York, 1934.

38.C u 11 i t y, Elements of X-ray diffraction, 1956.

ЗАМЕЧЕННЫЕ ОПЕЧАТКИ

Стра	Строка			Напечатано			Должно быть
ница	Строка			Напечатано			Должно быть
27	Табл. 3, 3-я графа,			8,0			48,0
	5-я снизу
37	8-я сверху		(фиг. 10, 11).				(фиг. 10, II).
40	9-я и 16-я снизу			табл. 9			табл.		7
55	5-я, 6-я, 7-я, 14-я			Ge			Се
	сверху
65	2-я сверху			меньше			не меньше
68	4-я снизу			фиг.	22,		фиг.	21,
79	Формула (42)			(Л2 + к2)			(Л2 + Л-2)
99	3-я, 4-я сверху			ДФср			ДОдз
99	Подпись под фиг. 36,		от скольжения О'.				от угла скольжения О.
	3—4-я сверху
101	10-я снизу		приведены ниже.				приведены в верхней
							таблице.
102	2-я сверху			—	п —		=Sg•п =
103	Табл. 23,	4-я графа,	1,	14, 16, если			1, если
	1 и 5-я сверху
114	Табл. 26, 3-я графа,			80,9			90,9
	4-я снизу
151	19-я	сверху		(90° = О)			(90°—■&)
162	12-я	снизу		фиг.	59,		фиг.	80,
164	20-я снизу			тт .	П311	♦	«411 .	_	=	«311	.
164	20-я снизу		Ул-------- X		= -------	♦	?/1 = о—;	х	=	Рзы	.
					Озп		Pill			Рзы
167	2-я сверху			10—5 см,			10—6 см,
171	3-я снизу			(фиг.	68);		(фиг.	64);
183	1-я и 4-я снизу			«1
184	2-я сверху			ах).			ах).
192	2-я снизу			(фиг. 78).			(фиг. 77).
196	8-я сверху			11,0-10—3			11,0-10—4
196	Головка табл. 50,			10“3			10-4
	3 и 5-я графы
			ПОПРАВКА
На стр. 29 в		выражениях для определения центров колец величины
181,6;	179,30; 168,25; 149,10;		147,60	относятся к симметричным				кольцам 2,

3, 5, 8 и 9 на фиг. 7, где эти величины не указаны.

Качанов и Миркин, 1935.

	ОГЛАВЛЕНИЕ
			Стр.
Предисловие .............................................................................................................			3
Глава I.	Получение и обработка	рентгенограмм . ......................................	5
1.	Приготовление объектов	для исследования................................	5

2.Выбор типа камеры и условий съемки рентгенограмм .... 10

3.Методы приготовления некоторых селективно поглощающих

фильтров	..........................................................................................	14
Настройка,	установка и зарядкакамер.......................................	16
Условия фокусирования линий . ".................................................		23
Обработка рентгенограмм ....................................................................		25
?ъемка рентгенограмм при высоких и низких температурах .		31
Гласа II. Расчет и	индицирование рентгенограмм .........	34

1.Аналитические методы индицирования рентгенограмм .... 34

Металлы кубической системы.................	».......................................		34
Индицирование рентгенограмм для тетрагональной, гек			40
сагональной и ромбоэдрической	систем ....................................
2. Графическиеметоды индицирования................................................			42
Кубическая система .............................................................................			42
Тетрагональная и гексагональная системы (по графикам Хелла)			43
Графический метод индицирования рентгенограмм тетраго			51
нальной и гексагональной систем (по графикам Банна).		. .


3.	Индицирование рентгенограмм с помощью таблиц межплоско
	стных расстояний	j , шаблонов и логарифмической линейки .		53
Глава III. Определение истинного расширения линий на рентгенограммах				62
1.	Техника фотометрирования		рентгенограмм................................	62
2.	Измерение ширины линий		на рентгенограммах........................	65

3.Подбор аналитической функции, соответствующей эксперимен

4	тальной кривой интенсивности .................................................			излучения	66
	Поправка на немонохроматичность				68
5.	Определение истинной ширины линии. Метод аппроксимации . .				71
Глава IV. Методы прецизионного измерения				постоянных кристаллпче*
ской решетки ....................................................................................				75
1.	Выбор излучения при прецизионных методах измерения перио				75
2.	дов	кристаллической	решетки......................................................
	Метод	асимметричной	съемки..........................................................	расходящемся пучке рент	78
°	Съемка на больших расстояниях в				80
4.	геновских лучей ...............................................................................
	Метод	съемки с эталоном..................................................................			85

5.	Безэталопный	метод	обратнойсъемки.............................................	87
6.	Методы графической		экстраполяции.............................................	88
7.	Определение	периодов	решетки по рентгенограммам,	снятым
8.	со шлифа	...............................	'............................................................	96
8.	Применение	ионизационного метода.............................................		98

9.Выбор метода прецизионного определения периодов решетки . 102

Глава	V.	Фазовый анализ . .................................................................................				105
’		Методы фазового анализа....................................................................				105
2.		Оппетеление	^ипа тв^р'эго раствора, плотности и атомного			118
		■леггие	плавов	....	‘ .....................................	118
		■леггие	состава	юяния...........................................................		120
		'вание	диаграмм			122

215

5. Рентгеновский анализ термической обработки стали .... 128

6.Рентгеновский анализ химико-термической обработки . . 134

7.Рентгеновский анализ обезуглероживания и окисления стали . 142

8.Фазовый анализ слоев, образующихся при насыщении стали

металлами ............................................................................................

144

9.Некоторые особенности исследования поверхностных слоев . . 146

10. Применение ионизационного метода.............................................	148
Глава VI. Определение размеров кристаллов (блоков) в металлах • , »	150

1.Определение размеров кристаллов по точечным рентгенограм

мам ....................................................................................................	150
Измерение размеров пятен на рентгенограммах.....................	151
Подсчет количества пятен на дифракционном кольце ....	153

2.Измерение размеров блоков по интенсивности линий на рент

	генограммах ...................................................................................	156
3.	Определение размеров блоков по расширению линий	на рент-
-	генограмм&х« ............................................................................	161

4.Методы определения угла разориентировки блоков (угла мо

		заичности)	.......................................................................................			170
Глава	VII. Измерение внутренних напряжений и искажений кристалли
	ческой решетки в материалах и деталях . , . ....................					173
	1. Определение напряжений I рода и ориентированных микро
		напряжений	суммы......................................................................................главных		напряжений	•. 174
		Определение			напряжений	174
		Определение составляющей напряжения в заданном напра
		влении	. ... *................................................................................			18G
		Раздельное	определениеглавныхнапряжений...............................			183
	2.	Применение	ионизационногометода..................................................			190
	2.	Методы измерения		неориентированных микронапряжений
		(искажений	II рода)......................................................................			194
		Определение мпкронапряжений по расширению линий на
		рентгенограммах .....................			’.......................................................	194
Глава	VIII. Исследование преимущественных ориентировок					(текстур) 197
	1.	Исследование волокнистых текстур........................................				199
	2.	Применение	стереографических		проекций...........................	203
	3.	Построение	полюсных	фигур.....................................................		206
Литература ............................						213

Николай Николаевич Качанов Лев Иосифович Миркин

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ (ПОЛИКРИСТАЛЛОВ)

Редактор	издательства инж..В. В. Ржавинский		Переплет художника А. В. Петрова
Технический редактор А. Ф. Уварова			Корректор Р. В. Цветкова
Сдано в производство 10/Х 1959 г.			Подписано к печати 21/1		1960 г.
Т-02231.	Тираж 5000 экз.	Печ.	л. 13,5.	Уч.-изд.	jt. 14,25.
	Бум. л. 6,75.	Формат 60x92/16. Зак.		1935.

Типография «Красный Печатник». Ленинград, Московский проспект, 91.

Источник: https://tut-files.ru/previewfile/124922

Смотрите также:




17. Введение 18. Линейные программы 19. Ветвления 20. Программирование циклических алгоритмов
Анализ эффективности инвестиций предприятия на примере ООО «СпецПримСтрой»
налогу на добавленную стоимость
Сборные железобетонные ребристые плиты перекрытия
_-___-~1
_3 тема - Диффузия
_Роджерс Карл, Брак и его альтернативы