Материал: Волновая оптика

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

Рисунок 3‒ Дифракция на диске

=

+1

(5)

2

 

 

В точке в центре геометрической тени всегда наблюдается интерференционный максимум, называемый пятном Пуассона,

соответствующий половине действия только первой ( + 1) открытой зоны Френеля, и окруженный концентрическими с ним темными и светлыми кольцами,

рис.3, б.

По мере увеличения отношения диаметра к расстоянию яркость пятна Пуассона постепенно уменьшается, а следующее за ним темное кольцо расширяется, образуя область тени за диском.

4. Дифракция Фраунгофера на одной щели и дифракционной решетке

Дифракция Фраунгофера (дифракция в параллельных лучах) наблюдается, когда на препятствие падает плоская волна, а источник света и точка наблюдения бесконечно удалены от препятствия, вызывающего дифракцию. Дифракционная картина наблюдается на экране в фокальной плоскости собирающей линзы, установленной на пути прошедшего через препятствие света.

11

Дифракция на одной щели. Пусть плоская монохроматическая волна с длиной волны нормально падает на очень длинную щель шириной = (длина щели). Плоскость щели и экран Э параллельны, рис. 4.

Рисунок 4‒ Дифракция на щели

Если бы при прохождении света через щель соблюдался закон

прямолинейного распространения света, то на экране Э, установленном в фокальной плоскости собирающей линзы Л получилось бы изображение источника света. Вследствие дифракции на узкой щели на экране наблюдается система интерференционных максимумов ‒ размытых изображений источника света, разделенных темными промежутками интерференционных минимумов.

Оптическая разность хода между волнами, исходящими от крайних точек щели,

т.е. крайними лучами и на рис. 4, а, равна:

∆= = sin

(6)

Разобьем открытую часть волновой поверхности на зоны Френеля. Ширина каждой зоны выбирается так, чтобы оптическая разность хода лучей, проведенных от краев зоны параллельно , была равна ⁄2. На ширине щели ∆ уместится 2∆⁄ зон.

В соответствии с принципом Гюйгенса-Френеля точки щели являются вторичными источниками волн, колеблющимися в одной фазе с одинаковой амплитудой, так как плоскость щели совпадает с фронтом падающей волны.

Суммарная интенсивность колебаний от двух любых соседних зон равна нулю.

Следовательно, результат интерференции света в точке (побочный фокус) определяется тем, сколько зон Френеля укладывается в щели, рис. 4,6:

12

1) если число зон Френеля четное, то условие дифракционного минимума (полная темнота) имеет вид

sin = ±

( = 1, 2, 3, … );

(7)

2) если число зон Френеля нечетное, то условие дифракционного максимума, соответствующего действию одной некомпенсированной зоны Френеля, записывается так:

sinφ = ± (2 + 1)

 

( = 1, 2, 3, … );

(7а)

2

 

 

 

Знак «минус» в правой части формул (7) и (7а) соответствует лучам света,

распространяющимся от щели под углом — φ и собирающимся в побочном фокусе ′ линзы, симметричном с относительно главного фокуса 0.

В направлении = 0 щель действует как одна зона Френеля. В этом

направлении свет распространяется с наибольшей интенсивностью и наблюдается центральный дифракционный максимум: колебания,

вызываемые всеми участками щели в точке 0, совершаются в одной фазе.

Направления, в которых амплитуда максимальна или равна нулю, соответственно

таковы:

sin

= ±

(2 +1)

,

sin

 

= ±

 

.

(8)

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

5. Дифракционная решетка. Дифракция на пространственной решетке.

Одномерная дифракционная решетка ‒ это система параллельных щелей равной ширины, лежащих в одной плоскости и разделенных равными по ширине непрозрачными промежутками, рис. 5, а. Дифракционная картина является результатом взаимной интерференции волн, идущих от всех щелей.

13

Рисунок 5‒ Дифракция на дифракционной решетки

где TV - число щелей, приходящееся на единицу длины.

Разность хода ∆ лучей, идущих от двух соседних щелей, будет для данного направления одинакова в пределах всей дифракционной решетки:

∆= = ( + ) sin = sin .

Прежние (главные) минимумы интенсивности, определяемые по формуле

(23.6) , будут наблюдаться в направлениях

sin = ± ( = 1, 2, 3, … ). (9)

Кроме того, вследствие взаимной интерференции согласно условию ин-

терференционных минимумов (21.7), в направлениях, определяемых как

sin = ±(2 + 1)

 

( = 1, 2, 3, … ).

(10)

2

 

 

 

возникнут дополнительные минимумы.

Действие одной щели будет усиливать действие другой и будут наблюдаться узкие главные максимумы в направлениях, определяемых уравнением

sin = ± ( = 0, 1, 2, … ),

(11)

где называется порядком главного максимума.

Таким образом, между двумя соседними главными максимумами распо-

лагается ( − 1) дополнительных минимумов, разделенных ( − 2) вторичными слабыми максимумами, рис. 5, б. Число главных максимумов будет (2 + 1).

Наибольший порядок дифракции, поскольку |sin | < 1, определяется как

14

≤ .

Амплитуда главного максимума есть сумма амплитуд колебаний от каждой щели = 1 . Поэтому интенсивность главного максимума в 2 раз больше интенсивности 1, создаваемой одной щелью в направлении главного максимума:

= 2 1 .

В современных спектральных приборах для пространственного разложения электромагнитного излучения в спектр используются как вогнутые, так и плоские дифракционные решетки. При этом в основном применяют отражательные дифракционные решетки, когда штрихи наносятся на зеркальную (металлическую)

поверхность. В этом случае интерференционная картина образуется в отраженном свете. В 70-е гг. был разработан новый, голографический метод создания вогнутых и плоских дифракционных решеток, когда на вогнутую или сферическую подложку наносят слой специального светочувствительного фоторезистного материала.

Дифракция света наблюдается как на одномерных, так и на двумерных

(штрихи нанесены во взаимно перпендикулярных направлениях в одной и той же плоскости) и трехмерных решетках. Пространственной (трехмерной) ди-

фракционной решеткой называется оптически неоднородная среда, неоднородности которой периодически повторяются при изменении всех трех пространственных координат.

Примером может служить кристаллическая решетка твердого тела (посто-

янная решетки ~10−10 м). Частицы, образующие эту решетку (атомы, молекулы или ионы), играют роль упорядоченно расположенных центров, когерентно рассеивающих падающий на них свет. Поэтому кристаллы могут быть использо-

ваны для наблюдения дифракции рентгеновского излучения ( 10−12 , 10−8 м).

Представим кристалл в виде параллельных кристаллографических плос-

костей, отстоящих друг от друга на расстоянии , рис. 23.7. Пучок параллельных монохроматических лучей 1 и 2 падает под углом скольжения (угол между

15

Источник: https://studfile.net/preview/16701214/