Рисунок 3‒ Дифракция на диске
= |
+1 |
(5) |
|
2 |
|||
|
|
В точке в центре геометрической тени всегда наблюдается интерференционный максимум, называемый пятном Пуассона,
соответствующий половине действия только первой ( + 1) открытой зоны Френеля, и окруженный концентрическими с ним темными и светлыми кольцами,
рис.3, б.
По мере увеличения отношения диаметра к расстоянию яркость пятна Пуассона постепенно уменьшается, а следующее за ним темное кольцо расширяется, образуя область тени за диском.
4. Дифракция Фраунгофера на одной щели и дифракционной решетке
Дифракция Фраунгофера (дифракция в параллельных лучах) наблюдается, когда на препятствие падает плоская волна, а источник света и точка наблюдения бесконечно удалены от препятствия, вызывающего дифракцию. Дифракционная картина наблюдается на экране в фокальной плоскости собирающей линзы, установленной на пути прошедшего через препятствие света.
11
Дифракция на одной щели. Пусть плоская монохроматическая волна с длиной волны нормально падает на очень длинную щель шириной = (длина щели). Плоскость щели и экран Э параллельны, рис. 4.
Рисунок 4‒ Дифракция на щели
Если бы при прохождении света через щель соблюдался закон
прямолинейного распространения света, то на экране Э, установленном в фокальной плоскости собирающей линзы Л получилось бы изображение источника света. Вследствие дифракции на узкой щели на экране наблюдается система интерференционных максимумов ‒ размытых изображений источника света, разделенных темными промежутками интерференционных минимумов.
Оптическая разность хода между волнами, исходящими от крайних точек щели,
т.е. крайними лучами и на рис. 4, а, равна:
∆= = sin |
(6) |
Разобьем открытую часть волновой поверхности на зоны Френеля. Ширина каждой зоны выбирается так, чтобы оптическая разность хода лучей, проведенных от краев зоны параллельно , была равна ⁄2. На ширине щели ∆ уместится 2∆⁄ зон.
В соответствии с принципом Гюйгенса-Френеля точки щели являются вторичными источниками волн, колеблющимися в одной фазе с одинаковой амплитудой, так как плоскость щели совпадает с фронтом падающей волны.
Суммарная интенсивность колебаний от двух любых соседних зон равна нулю.
Следовательно, результат интерференции света в точке (побочный фокус) определяется тем, сколько зон Френеля укладывается в щели, рис. 4,6:
12
1) если число зон Френеля четное, то условие дифракционного минимума (полная темнота) имеет вид
sin = ± |
( = 1, 2, 3, … ); |
(7) |
2) если число зон Френеля нечетное, то условие дифракционного максимума, соответствующего действию одной некомпенсированной зоны Френеля, записывается так:
sinφ = ± (2 + 1) |
|
( = 1, 2, 3, … ); |
(7а) |
|
2 |
||||
|
|
|
Знак «минус» в правой части формул (7) и (7а) соответствует лучам света,
распространяющимся от щели под углом — φ и собирающимся в побочном фокусе ′ линзы, симметричном с относительно главного фокуса 0.
В направлении = 0 щель действует как одна зона Френеля. В этом
направлении свет распространяется с наибольшей интенсивностью и наблюдается центральный дифракционный максимум: колебания,
вызываемые всеми участками щели в точке 0, совершаются в одной фазе.
Направления, в которых амплитуда максимальна или равна нулю, соответственно
таковы:
sin |
= ± |
(2 +1) |
, |
sin |
|
= ± |
|
. |
(8) |
|
|
|
|||||||
|
|
2 |
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
||||
5. Дифракционная решетка. Дифракция на пространственной решетке.
Одномерная дифракционная решетка ‒ это система параллельных щелей равной ширины, лежащих в одной плоскости и разделенных равными по ширине непрозрачными промежутками, рис. 5, а. Дифракционная картина является результатом взаимной интерференции волн, идущих от всех щелей.
13
Рисунок 5‒ Дифракция на дифракционной решетки
где TV - число щелей, приходящееся на единицу длины.
Разность хода ∆ лучей, идущих от двух соседних щелей, будет для данного направления одинакова в пределах всей дифракционной решетки:
∆= = ( + ) sin = sin .
Прежние (главные) минимумы интенсивности, определяемые по формуле
(23.6) , будут наблюдаться в направлениях
sin = ± ( = 1, 2, 3, … ). (9)
Кроме того, вследствие взаимной интерференции согласно условию ин-
терференционных минимумов (21.7), в направлениях, определяемых как
sin = ±(2 + 1) |
|
( = 1, 2, 3, … ). |
(10) |
|
2 |
||||
|
|
|
возникнут дополнительные минимумы.
Действие одной щели будет усиливать действие другой и будут наблюдаться узкие главные максимумы в направлениях, определяемых уравнением
sin = ± ( = 0, 1, 2, … ), |
(11) |
где называется порядком главного максимума.
Таким образом, между двумя соседними главными максимумами распо-
лагается ( − 1) дополнительных минимумов, разделенных ( − 2) вторичными слабыми максимумами, рис. 5, б. Число главных максимумов будет (2 + 1).
Наибольший порядок дифракции, поскольку |sin | < 1, определяется как
14
≤ .
Амплитуда главного максимума есть сумма амплитуд колебаний от каждой щели = 1 . Поэтому интенсивность главного максимума в 2 раз больше интенсивности 1, создаваемой одной щелью в направлении главного максимума:
= 2 1 .
В современных спектральных приборах для пространственного разложения электромагнитного излучения в спектр используются как вогнутые, так и плоские дифракционные решетки. При этом в основном применяют отражательные дифракционные решетки, когда штрихи наносятся на зеркальную (металлическую)
поверхность. В этом случае интерференционная картина образуется в отраженном свете. В 70-е гг. был разработан новый, голографический метод создания вогнутых и плоских дифракционных решеток, когда на вогнутую или сферическую подложку наносят слой специального светочувствительного фоторезистного материала.
Дифракция света наблюдается как на одномерных, так и на двумерных
(штрихи нанесены во взаимно перпендикулярных направлениях в одной и той же плоскости) и трехмерных решетках. Пространственной (трехмерной) ди-
фракционной решеткой называется оптически неоднородная среда, неоднородности которой периодически повторяются при изменении всех трех пространственных координат.
Примером может служить кристаллическая решетка твердого тела (посто-
янная решетки ~10−10 м). Частицы, образующие эту решетку (атомы, молекулы или ионы), играют роль упорядоченно расположенных центров, когерентно рассеивающих падающий на них свет. Поэтому кристаллы могут быть использо-
ваны для наблюдения дифракции рентгеновского излучения ( 10−12 , 10−8 м).
Представим кристалл в виде параллельных кристаллографических плос-
костей, отстоящих друг от друга на расстоянии , рис. 23.7. Пучок параллельных монохроматических лучей 1 и 2 падает под углом скольжения (угол между
15