понимается фиксация при нормальной температуре неустойчивых в обычных условиях полиморфных форм вещества за счет внедре ния в его структуру примесных атомов с образованием твердых растворов. Кристаллохимическую стабилизацию часто используют на практике для предотвращения полиморфного превращения, ес ли оно по тем или иным причинам нежелательно.
В керамике, например, это имеет место при производстве изде лий на основе Zr02, имеющего несколько полиморфных форм. При охлаждении переход тетрагонального Zr02 (плотность 6,10Х X 103 кг/м3) в моноклинный (плотность 5,7-103 кг/м3) сопровожда ется увеличением объема более чем на 7%, что может сопровож даться деформацией или даже разрушением изделий из Zr02. При образовании высокотемпературной кубической формы Zr02 в виде твердых растворов замещения со структурно близкими оксидами (CaO, MgO, SrO, V20 3, Ce02, Y20 3, Th02) эта форма стабилизиру ется при обычной температуре и таким образом нежелательный пе реход тетрагональной формы в моноклинную предотвращается. Этим приемом пользуются при изготовлении изделий из Zr02, вво дя в его состав 10... 15% (мол.) указанных оксидов, что обеспечи вает устойчивую стабилизацию кубического Zr02.
При производстве портландцемента один из его минералов — 2Ca0*Si02 желательно зафиксировать при обычной температуре в а-, а'- или {5-формах, неустойчивых в чистом виде при обычной тем пературе, и не допустить их перехода в стабильную у-форму, так как в отличие от первых последняя не обладает гидравлической активностью (способностью взаимодействовать с водой и твер деть). Стабилизация указанных форм и особенно {5-формы также достигается за счет образования ими твердых растворов со многи ми оксидами, например, щелочных, щелочно-земельных, многих переходных и редкоземельных металлов и других соединений.
Однако некоторые соединения, образуя твердые растворы с мат ричным веществом, могут не только не стабилизировать неустой чивую в данном температурном интервале форму, а наоборот, спо собствовать полиморфному превращению и даже оказывать деста билизирующее действие на ранее стабилизированную форму. На пример, если примеси МпО и NiO предотвращают переход метастабильной Y-формы Fe20 3 в гематит (a-форма), то Сг20 3 способ
ствует этому переходу. Некоторые |
примеси, например ТЮ2, Р20 3> |
S i02, способствуют дестабилизации |
кубического Zr02. По некото |
рым данным, такие оксиды, как MgO, А120 3, ТЮ2идр.,не стабили зируют (5-форму 2 C a 0 S i0 2, хотя и внедряются в его решетку с об разованием твердого раствора, a FeO, Sb2Os и некоторые другие даже способствуют переходу {5->a-2Ca0Si02. По-видимому, неко торые примеси в бездефектном кристалле способствуют образова нию большого числа дефектов, что облегчает образование зароды шей новой фазы и тем самым полиморфное превращение.
Стабилизирующее действие тех или иных примесных веществ на метастабильные модификации проявляется при их различном со
63
держании |
в твердом |
растворе. Например, уже 0,25% (мае.) |
В20 3 |
|
устойчиво |
стабилизирует |
(5-форму 2C a0-S i02, предотвращая ее |
||
переход в у-форму, |
а для |
стабилизации р-формы оксидом |
бария |
|
его содержание в твердом растворе должно составлять > 2,5% (мае.). Для некоторых веществ, существующих в нескольких поли морфных формах, обнаружена избирательность стабилизирующего действия отдельных примесных веществ. Например, одна и та же примесь не стабилизирует, как правило, всех полиморфных форм 3C a0 -S i02 (лишь ZnO может стабилизировать за счет замещения типа Ca2+-»-Zn2+ все модификации 3C a0-S i02), а избирательно стабилизирует лишь некоторые из них. Однако для некоторых дру гих веществ доказана универсальность действия многих стабили зирующих добавок на все полиморфные модификации. Так, напри мер, ортосиликаты Nd, La, Y, Ва и Са3(Р 0 4) 2 в зависимости от их содержания в твердом растворе могут стабилизировать все метастабильные при обычной температуре формы 2C a0-S i02— а, а' и р, причем вещество, входящее в структуру 2C a0-S i02 в количе ствах, достаточных для стабилизации высокотемпературной а-фор- мы, при меньшем содержании стабилизирует а'-, а в еще меньших p-2Ca0-Si02. Предполагается, что содержание примесного веще ства, необходимого для стабилизации той или иной формы, опре деляется степенью перестройки структуры при ее переходе в дру гую форму. Чем больше отличаются по структуре полиморфные мо дификации и, следовательно, чем существеннее перестройка струк туры при полиморфном переходе, тем легче его предотвратить и тем меньше стабилизатора для этого требуется. При сходных структу рах полиморфные превращения осуществляются легче и, следова тельно, тем больше стабилизатора требуется, чтобы затормозить полиморфный переход.
В настоящее время отсутствует достаточно общая теория, по зволяющая объяснить условия и механизм кристаллохимической стабилизации. На основании обобщения экспериментальных дан ных делались попытки найти общий критерий для оценки способ ности веществ к стабилизирующему действию. В некоторых рабо тах условия стабилизации связываются с характером тех изменений в структуре матричного вещества, которые вызывают внедряющие ся в нее катионы или анионы, с размером и зарядом ионов матрич ной структуры и внедряющихся в нее ионов, с различием в степени ионности-ковалентности образуемых ими связей, с положением атомов в периодической системе элементов Д. И. Менделеева и т. д. Для кристаллохимической стабилизации необходимо, чтобы данное вещество образовывало твердые растворы с матричным ве ществом, однако это условие является необходимым, но не всегда достаточным, поскольку, как уже указывалось, не все такие веще ства могут играть роль стабилизаторов. По-видимому, большую роль играет различие в степени растворимости примесного веще ства в различных полиморфных модификациях матричного веще ства. Если, предположим, примесь обладает большей раствори-
64
мостью в высокотемпературной форме, чем в низкотемпературной, то для реализации полиморфного превращения при охлаждении она должна по крайней мере частично выделиться из высокотемпе ратурной формы, образуя отдельную фазу. Этот твердофазный про цесс, особенно при низких температурах, протекает достаточно трудно, и при соответствующих условиях в интервалах температур, при которых примесь уже не в состоянии выделиться, создаются условия для стабилизации высокотемпературной формы в темпе ратурной области существования другой формы. В противном слу чае, например при равной растворимости в обоих формах, примесь уже не может препятствовать полиморфному превращению и не будет являться стабилизатором. Указанное объяснение механизма кристаллохимической стабилизации подтверждается известным фактом влияния примесей на температуру полиморфного превра щения: при большей растворимости примеси в высокотемператур ной форме температура полиморфного превращения может при охлаждении значительно снижаться по сравнению с равновесной температурой. Например, температура полиморфного превращения a->-a, -2Ca0 -Si02 снижается в присутствии 8 % В20з на 151°С, 1,3% Na20 на П0°С, 2,5% Сг2,03 на 61°С, 20% ВаО на 200°С и т.д. по сравнению с температурой превращения в чистых препаратах.
2.4.6. Политипизм
Особым случаем полиморфизма является так называемый полигипизм, заключающийся в том, что вещество может кристаллизо ваться в нескольких модификациях, отличающихся типом упаковки атомов. Политипизм можно назвать условно полиморфизмом в од ном направлении, поскольку политипные модификации имеют оди наковые параметры элементарной ячейки по двум кристаллографи ческим направлениям и разные (но кратные одной и той же общей величине) по третьему направлению, что объясняется различием в способе упаковки атомных слоев в этом направлении.
Политипизм характерен для некоторых плотноупакованных и слоистых структур. Классическим примером соединения, облада ющего политипизмом, является карборунд a-SiC. Это соединение существует в виде более 50 политипных разновидностей, отлича ющихся различным типом гексагональной упаковки в направлении оси с, проявляющимся в том, что повторяющиеся слои чередуются в этом направлении через различное расстояние (различное число слоев). Элементарная ячейка a-SiC имеет параметры: а—Ь = =0,3078 нм и с=0,2518п нм, где п— число слоев в гексагональной ячейке политипа в направлении оси с, которое может изменяться от 2 до 500 и более. Самую большую элементарную ячейку имеет политип a-SiC, в котором повторение слоев наблюдается через 594 слоя, а наиболее известным является шестислойный политип.
Политипизм приближается к фазовым переходам второго рода. У политипных разновидностей ближайшие координационные сферы
3— 191 |
65 |
чаще всего сохраняются. В настоящее время характерный для по литипизма дальнодействующий кристаллографический порядок объ ясняется не какими-либо дальнодействующими силами, а присут ствием в зародышах кристаллов спиральных ступенек — винтовых дислокаций (см. ч. I, разд. 2.5), обусловливающих рост кристал лов. По некоторым данным, на образование политипизма оказыва ют влияние температура и скорость кристаллизации, наличие при месей, механические воздействия на кристалл.
Полиморфизм некоторых глинистых минералов, а также неко торых других слоистых силикатов, например слюд, возникает часто как следствие различных способов укладки слоев в их структурах, что также может рассматриваться как один из случаев проявления политипизма.
2.5.ДЕФЕКТЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ
Врешетке идеального кристалла атомы (ионы) располагаются
впространстве строго упорядоченно и закономерно, а электроны должны находиться на уровнях с минимальной энергией. В реаль ных кристаллах существуют различные искажения или нарушения этого идеального расположения частиц, которые обычно называют
д е ф е к т а м и к р и с т а л л и ч е с к о й р е ш е т к и .
Природа дефектов может быть различной и простирается от микроуровня (электронного, атомного) до дефектов в микрообъ емах вещества. В зависимости от размера той области неупорядо ченности (области искажений решетки), которую занимают те или иные дефекты, их можно классифицировать по чисто геометриче скому признаку — «размерности» дефекта («размерность» — число измерений, по которым дефект имеет макроскопическую протяжен ность). По этой классификации дефекты кристаллической решетки
разделяют на н у л ь м е р н ы е |
( т о ч е ч ные ) , о д н о - , д в у х - и |
т р е х м е р н ы е . Нульмерные |
дефекты в первом приближении |
занимают в кристалле область искажений, соизмеримую по всем направлениям с размером атома или электрона. Одномерные де фекты имеют протяженность, значительно превосходящую размер атомов в каком-либо одном направлении (в других направлениях они нульмерны), двухмерные — в двух и трехмерные — в трех на правлениях.
Нуль- и одномерные дефекты относятся к микродефектам или дефектам тонкой структуры кристалла. Нульмерные дефекты мож но разделить на электронные и атомные. К электронным дефектам принадлежат избыточные электроны, дырки и экситоны. К атомным нульмерным дефектам (рис. 11) относятся вакансии (незанятые узлы решетки), примесные атомы, замещающие собственные ато мы вещества в их регулярном положении (в узлах решетки), и соб ственные или примесные атомы, находящиеся (дислоцированные) в иррегулярном положении в междоузлиях решетки (частицы, на ходящиеся в междоузлиях, иногда называют междоузельными или
66
интерстициальными). К одномерным атомным дефектам относятся краевые и винтовые дислокации.
Двух- и трехмерные дефекты принадлежат к макродефектам или дефектам грубой структуры. Примерами двухмерных дефектов яв ляются так называемая мозаичная структура кристаллов, граница зе рен, дефекты упаковки, трехмер ных— поры, трещины в кристалле, включения в него другой фазы и другие нарушения целостности кри сталла.
Большое значение, которое при дается изучению дефектов кристал лической решетки в физике твердого тела, обусловлено их огромным вли янием на свойства кристаллических веществ. Кроме того, дефекты ока зывают часто решающее влияние на такие процессы, как рост кристал лов, массоперенос (диффузии) в твердых телах, определяющий кинегику таких важных в технологии си ликатных и других тугоплавких не
металлических материалов процессов, как твердофазовые реакции, спекание, рекристаллизация и т. д.
Как уже отмечалось, к атомным нульмерным или точечным де фектам относятся вакансии, примесные атомы в регулярных узлах решетки и примесные атомы, дислоцированные в междоузлиях. Эти типы дефектов в принципе могут встречаться в решетке кристал лов в отдельности, но чаще всего они присутствуют в комбина ции друг с другом. В зависимости от этого различают следующие типы атомных нульмерных дефектов: твердые растворы (включая дефекты нестехиометрии), дефекты по Шоттки и дефекты по Френ келю.
2.5.1. Твердые растворы
Твердыми растворами называют однородные кристаллические фазы перемен ного состава.
Твердые растворы определенной структуры представляют собой одну кристаллическую фазу, состав которой в определенных пре делах (в так называемой области гомогенности) может изменяться
без появления |
новых фаз. Различают несколько |
типов |
твердых |
||
растворов |
(рис. |
12). Два типа — т в е р д ы е |
р а с т в о р ы |
з а м е |
|
щ е н и я |
(твердые растворы I рода) и т в е р д ы е р а с т в о р ы |
||||
в н е д р е н и я |
(твердые растворы II рода) образуются при внед |
||||
рении в решетку («растворении» в решетке) |
какого-либо кристал |
||||
лического соединения атомов или ионов другого |
соединения. При |
||||
3* |
67 |