Материал: Качанов Н.Н. Рентгеноструктурный анализ (поликристаллов) практическое руководство

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

Рентгенограмма должна иметь ровные края области почернения,

параллельные экваториальной линии пленки, чтобы можно было

точно установить положение исходных точек, т. е. траекторию фото-

метрированпя.

Размеры рентгенограммы должны совпадать с размерами кас­ сеты-держателя.

При работе на микрофотометре МФ-4 можно ввести ряд усовер­

шенствований конструкции, облегчающих визуальное и автоматиче­ ское фотометрирование.

Так, зубчатое колесо с пластинкой-упором, привинченное к

концу микрометрического винта, позволяет не следить за деле­ ниями винта при фотометрпровании. Поворот на один зубец соответ­

ствует перемещению стола на 0,05 мм.

. Система зеркал позволяет производить отсчет непосредственно около места записи. Система состоит из зеркала на уровне тубуса и зеркала на нижней каретке, в котором отражаются деления шкалы.

Наконец, можно присоединить к регистрирующей электрической схеме электронный быстродействующий потенциометр типа ЭПП-09 (ЦНИИЧЕРМЕТ).

При применении этого метода потенциометр подключается к фо­ тоэлементу микрофотометра.

Схема включает логарифмический преобразователь и, таким образом, кривая на потенциометре записывается в координатах интенсивность — расстояние вдоль экваториальной линии пленки.

Время записи кривой для одной линии при использовании по­

тенциометра не превышает нескольких минут, масштаб записи можно менять в очень широких пределах.

При записи на фотопластинку без приставки кривая записывается в " координатах почернение пленки — расстояние и требует пере­ стройки, так как почернение пленки пропорционально логарифму

интенсивности.

Имеющиеся в некоторых лабораториях нерегистрирующие ми­ крофотометры типа МФ-2 не имеют принципиальных отличий по схеме и конструкции от МФ-4 и отличаются лишь отсутствием схемы регистрации.

Следует отметить, что при работе на микрофотометре МФ-2 с пи­ танием от кислотных или щелочных аккумуляторов нужно обра­ щать особое внимание на положение нуля отсчетной шкалы, которое

обычно непрерывно меняется за счет разрядки аккумуляторов. Наибольшее влияние на качество фотометрической кривой при автоматической записи оказывают следующие факторы: скорость движения стола с пленкой, ширина щели, точность фокусировки объектива и зернистость пленки. Наиболее рациональная скорость

движения стола определяется степенью размытости линии и, в слу­ чае присоединения регистрирующего потенциометра, временем про­ бега каретки потенциометра ЭПП-09.

Рассмотрим случай, когда линия имеет ширину порядка 0,5 мм,

ее почернение близко к максимальному и время пробега каретки для потенциометра составляет 2 сек. В этом случае скорость дви-

64

даения стола должна быть такой,^чтобы пройти половину ширины

линии менее чем за 2 сек., т. е^меныпе 7,5 мм/мин.

Ширина щели, как правило, не должна превышать 0,25 от ши­ рины фотометрической линии на рентгенограмме (В. И. Иверонова).

При исследовании рентгенограммы с большими колебаниями плот­ ности фона иногда удается несколько улучшить результаты, приме­ няя дефокусировку, т. е. получая, на экране микрофотометра размы­ тое, а не сфокусированное изображение эмульсионного слоя пленки.

При точных фотографических измерениях интенсивности ли­ ний, отраженных под разными углами, приобретает значение погло­ щение рентгеновских лучей эмульсией рентгеновской пленки, ос­ новой пленки и черной бумагой. Величина этого поглощения раз­ лична для различных типов пленки и зависит от угла v между лу­

чом и пленкой (она пропорциональна eftsecv). Величина поглощения

при изменении угла от 0

до 57°может меняться в 2 раза.

2.

ИЗМЕРЕНИЕ ШИРИНЫ ЛИНИЙ НА РЕНТГЕНОГРАММАХ

Под

шириной

линии

на рентгенограмме^понимается величина

 

 

 

Я |, (35)

где 5 — площадь

кривой

интенсивности;

J — высота ординаты максимума кривой интенсивности линии

на рентгенограмме.

Простейшим способом измерения ширины линии по кривым интенсивности является измерение при помощи линейки ширины кривой интенсивности на середине высоты максимума. Этот метод измерения основан на предположении, что кривая интенсивности имеет форму треугольника, что, как правило, не соответствует действи елыюстн даже при грубом приближении.

/•иугим недостатком метода измерения ширины линии на сере­ дине высоты является трудность учета немонохроматичности излу­ чения. Дело в том, что линии на рентгенограмме, как правило, имеют дублетную структуру (т. е. состоят из линий Кау и Ка2,

расположенных рядом) с более или менее ярко выраженными двумя максимумами интенсивности. При размытии линии измерение на се­ редине высоты дает фактически ширину сразу двух линий Ка1 и Каг. Метод измерения ширины линии на середине максимума интенсив­

ности может применяться лишь для самых грубых расчетов.

По этим соображениям наиболее правильным методом опреде­

ления ширины линии следует считать измерение площади кривой интенсивности и деление ее на величину максимума интенсивности.

Измерение площади, заключенной между кривой интенсивности линии на рентгенограмме, и прямой, соединяющей уровень фона по обе стороны кривой интенсивности, производится с помощью плани­ метра. При планиметрировании точка опоры планиметра должна вы­ бираться так, чтобы в процессе обхода контура линии иглой плани­ метра ни одна точка планиметра не выходила за пределы листа,

5 Заказ 1935.

65

на котором расположена кривая .интенсивности, и рычаги плани­ метра должны по возможности составлять угол, близкий к прямому. Несоблюдение этих условий в некоторых случаях может привести к большим ошибкам в измерении площади.

Для исключения ошибок измерение повторяют несколько раз и

берут средний результат. Точность измерений площади при плани­

метрировании при исправном приборе должна быть не меньше 3%.

При подготовке к работе следует обратить внимание на правильную

установку масштаба планиметра, которая проверяется на специаль­

ном приспособлении, приложенном к планиметру, или путем обвода контура с известной площадью на миллиметровой бумаге.

Другими способами измерения площади кривой интенсивности являются подсчет числа клеточек на миллиметровой бумаге, вырезка контура линии, нанесенного на бумаге, взвешивание на аналитиче­

ских весах и т. д.

При съемке на ионизационной установке измерение площади кривой может быть проведено путем подсчета числа импульсов,

зарегистрированных счетчиком за время прохода им интервала уг­

лов, соответствующих линии.

При измерении площади кривой этим способом отмечается уро­ вень интенсивности, соответствующий фону. После этого одновре­ менно включаются электродвигатель поворота образца и счетчика

иэлектромеханический счетчик числа импульсов. После прохожде­ ния линии счетчик выключают и подсчитывают число импульсов,

соответствующее линии вместе с фоном. Площадь кривой интенсив­ ности определяют путем вычитания из полученной величины уровня интенсивности фона, умноженного на время записи линии; масштаб площади вычисляют путем измерения вертикального масштаба по

соотношению между линейными размерами на кривой интенсивности

ичислом импульсов в секунду. Горизонтальный масштаб вычисляют исходя из соотношения между скоростью движения диаграммной

бумаги на потенциометре и угловой скоростью вращения счетчика излучения.

Следует отметить, что повторяемость результатов при этом методе измерения значительно ниже точности измерения, соответствующей единицам импульсов на десятки тысяч (площадь кривой), поэтому измерение площади целесообразно проводить несколько раз для исключения влияния случайных колебаний в электрических схемах стабилизации режима рентгеновской трубки и в измерительной аппаратуре^

Таким образом, ширина линии на рентгенограмме получается путем деления площади кривой интенсивности, измеренной одним из

рассмотренных методов, на высоту максимума интенсивности.

3. ПОДБОР АНАЛИТИЧЕСКОЙ ФУНКЦИИ, СООТВЕТСТВУЮЩЕЙ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЙ КРИВОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ

При исправлении на немонохроматичность излучения и в ряде других операций с использованием ширины линии необходимо

установить аналитическую функцию, которой может быть выражена экспериментальная кривая интенсивности.

66

Наиболее часто экспериментальные кривые аппроксимируются одной из следующих функций:

J = J<£ ; J = Jo

ж2 ; J — Jo 0 + уЖ2)2 ’ (36)

где /о — высота максимума интенсивности.

Подбор функции распределения наиболее целесообразно прово­ дить по той части кривой интенсивности, которая соответствует

меньшим углам отражения, так как форма этой части кривой не ис­ кажается вследствие влияния составляющей а2 Ац-дублета. Подбор параметров а, [3 или у в аналитических функциях может проводиться путем определения площади теоретически построенной кривой и сравнения с экспериментальным значением площади.

1 Z 3 Ь 5 6 7 8 9 10 11 х 1 Z 3 4 5 6. .7 8 9 10 11х

Фиг. 20. Подбор аналитической функции, соответствующей эксперименталь­ ной кривой интенсивности линии (220) для стали 18ХГТ:

а — завалка с 920° отпуск при 600°; б — закалка с 920°.

Более простым способом определения параметра является ана­

литическое вычисление ординаты на середине высоты кривой и срав­ нение с экспериментальным значением ординаты. На фиг. 20 даны примеры подбора аналитической функции, аппроксимирующей экс­ периментальную кривую для линии (220) от стали марки 18ХГТ, подвергнутой закалке с 920° и отпуску при 600° в течение 1 часа. Кривая интенсивности получена на Fe-излучении с помощью иони­

зационной рентгеновской установки.

На фиг. 20 ясно видно, что

1

совпадение с эксперименталь-

кривые вида --г-—2у2 дают наилучшее

(l-f-Y х )

 

и^й кривой, что и было использовано при расчете рентгенограмм этей стали.

Следует отметить, что тремя рассмотренными функциями, ко­

нечно, не исчерпываются всевозможные формы кривых интенсив­ ности. В общем случае при необходимости подбора вида функции,

аппроксимирующей экспериментальную кривую, следует руковод­ ствоваться правилами, изложенными в специальных пособиях.

5*

67

Подбор аналитической функции для кривой распределения ин­

тенсивности можно проводить и путем построения в логарифмиче­

ских координатах. При этом строят кривую зависимости

lg J =

= 1g Jo — lg e~ax2 и т. д.

Степень

приближения

аналитических

функций к экспериментальной кривой оценивается

по

форме

полу­

ченных кривых: чем ближе

эта форма

к прямой,

тем

правильнее

подобрана функция.

 

 

 

 

 

4. ПОПРАВКА НА НЕМОНОХРОМАТИЧНОСТЬ ИЗЛУЧЕНИЯ

Выше отмечалось, что кривая интенсивности линии на рентгено­ граммах по своей природе состоит из двух кривых, наложенных друг на друга. Это обстоятельство вызвано тем, что К — серия

рентгеновского спектра, обычно используемая при рентгенострук­ турном анализе, содержит два компонента: ai и аг; наиболее интен­

сивными из них является ai, компонент аг имеет примерно в 2 раза меньшую интенсивность. Длины воли составляющих ai и аг незна­ чительно отличаются между собой, поэтому линии ai и аг на рент­ генограммах могут накладываться.

Для получения более точных результатов измерения ширины линии исключают влияние менее интенсивной составляющей дуб­ лета аг.

Для исключения влияния дублета применяются как аналити­ ческие, так и графические методы. Одним из наиболее удобных мето­ дов является метод моделирования расширения линии. Метод модели­ рования состоит в вычерчивании двух кривых одинаковой формы,

с максимумами, отличающимися в 2 раза. Одна из этих кривых моделирует линию ai, другая — линию аг. Форма кривых должна

приближенно соответствовать форме кривой интенсивности линии на рентгенограмме. После этого изменяя расстояния между кривыми ai и аг и графически складывая ординаты, определяют высоту мак­ симума результирующей кривой интенсивности.

Ширина результирующей кривой определяется как частное от деления суммарной площади кривых на максимум результирующей кривой. Результаты вычисления удобно представить в виде графика,

на оси абсцисс которого отложена величина , где б междублетное

расстояние между максимумами кривых, В — ширина результирую­

щей кривой, на осп ординал отложена величина , где Во — ши­

рина составляющей ai на рентгенограмме..

Для кривых интенсивности различной формы вид поправочных кривых различен. На фиг. 21 даны поправочные кривые для линий

различной формы.

Для практического применения графика, данного на фиг. Я, необходимо знать междублетное расстояние б, которое определяется из значений длин волн Xai и Ха2 по формуле

б = 2-^tgfl.

(37)

1 °

 

в?

Источник: https://tut-files.ru/previewfile/124922