Материал: Качанов Н.Н. Рентгеноструктурный анализ (поликристаллов) практическое руководство

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

поправку на условия съемки, так как максимальная ошибка в этом случае не превышает 10%. Точность измерения ширины линии по фотометрическим кривым, как правило., не превышает 5—10%. При

той же точности измерения ширины линии (10%), но при отношении

Ё2. = 5

ошибка -^=-~ в

зависимости от формы поправочной

кривой может лежать в

интервале 2—20%. В этом случае при рас-

чете по

формуле (39)

нельзя пре­

небрегать расширением линии за

счет экспериментальных

условий.

В то же время, если поправочная

кривая

выражается

уравнением

(40) или линией, близкой кокруж-

80

 

^■WO

60

fit-.

00

 

 

 

го

--г-—•

12=4

 

 

о

8

10

 

 

 

 

 

Ьц

предельных

значений поправок к

Фиг. 26. Зависимость возможных оши­

бок при

определении истинной ширины

ширине линии, вызванной условиями

линий (110) — 01 и (220) — 02 железа и

съемки

рентгенограмм.

стали на Fe-излучении от

соотноше­

 

 

ния между шириной

линий

исследуе­

мого образца и эталона.

пости, то поправкой на экспериментальное расширение можно

пренебречь. При ~ 3 исправление ширины линии на условия

съемки необходимо производить при всех видах поправочных кри-

вых. Соответствующий расчет

показывает,

что ошибка

0

при

определении 0 возрастает по

 

 

 

Но

мере уменьшения отношения -т~ .

В зависимости от величины

■Во

поправку

на

.

отношения-77-

| рас-

 

 

 

 

ширение линии за счет условий съемки наиболее целесообразно

проводить различными способами. Если это отношение составляет

8—10, что соответствует рентгенограммам материала с очень малыми размерами блоков (10-7 — 10-6 см) и большими искажениями второго рода или микронапряжениями > 5-10-3) , то точный расчет

73

поправочной формулы не является необходимым. Для этого случая истинная ширина линии рассчитывается по формуле (39) и опре­ деляется разностью между В.и Ъ. Поправка на пемонохроматичность излучения не вводится, так как ширина линии эталона обычно зна­ чительно больше междублетного расстояния 6.

Если величина р не намного превосходит ширину эталонной кривой до, то прежде, если это возможно, следует улучшить геомет­ рию съемки, т. е. уменьшить размеры щелей, улучшить центри­ ровку и уменьшить диаметр цилиндрического образца или улучшить фокусировку и центрировку при съемке со шлифа, или по возможности снимать рентгенограмму с вогнутого шлифа с точной фокусировкой.

Для небольших значений р необходимо также проводить исправ­ ление на пемонохроматичность излучения. Методы исправления ширины линии на К-дублет изложены ранее. В этом случае необхо­ димо применять описанные выше методы аппроксимации пли дру­ гие специальные методы.

Для наиболее рационального применения рассмотренных методов необходимо, чтобы форма кривой интенсивности не менялась су­

щественно при исследуемом интервале обработок сплава или в иссле­

дуемом интервале составов. Это условие обычно осуществляется на практике, например, при исследовании образцов из армко-железа,

сталей марок 20, 18ХГТ, ЗОХГТ и 45, подвергнутых закалке с 920— 1200° и отпуску в интервале 200—700°; форма линии соответствует виду

j — j

1

J ”

(1-f-ax2)2*

Рассмотренные выше методы исключения влияния дублетности излучения и экспериментального расширения линии, несмотря на относительную простоту, не свободны от недостатков.

Дело в том, что пи одна аналитическая функция не может пол­ ностью описать форму кривой интенсивности вследствие того, что эта кривая имеет определенную асимметрию относительно вертикаль­

ной оси. Другим недостатком описанного метода является произволь­ ность выбора вида функции F(x), описывающей истинное расшире­ ние линии.

Эти недостатки приводят к снижению точности исследования,

особенно в тех случаях, когда аналитические выражения для / (х)

иh (х) сильно отличаются и ассимметрия линий значительна.

Для получения более точных и объективных результатов при­

меняют метод анализа формы линии с помощью рядов Фурье.

Несмотря на свои преимущества, этот метод очень сложен и имеет ограниченное применение.

ГЛАВА IV

МЕТОДЫ ПРЕЦИЗИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПОСТОЯННЫХ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ

При решении ряда задач (точное определение границ раствори­ мости, определение концентрации твердых растворов и др.) точность определения периода решетки при применении методов съемки рент­ генограмм, рассмотренных выше, оказывается недостаточной.

В этих случаях измерение периодов решетки проводят более точ­ ными, прецизионными методами.

Прецизионность достигается или применением специальных ме­ тодов съемки рентгенограмм, или экстраполяцией полученных результатов к й —> 90°, или, наконец, применением специальных ма­ тематических методов обработки экспериментальных данных.

1. ВЫБОР ИЗЛУЧЕНИЯ ПРИ ПРЕЦИЗИОННЫХ МЕТОДАХ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРИОДОВ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ

Первым этапом исследования при прецизионных измерениях периодов кристаллической решетки является выбор такого излуче­ ния, которое позволяет получить на рентгенограмме исследуемого материала линии, соответствующие большим углам й.

Излучения, которые целесообразно использовать при анализе

некоторых материалов, приведены в

табл. 12. Для других материа­

лов целесообразно пользоваться специальными графиками.

График (фиг. 27), построенный

для материалов с кубической

■структурой, является графическим выражением формулы

2 sin й

X

• (А24-А34- Z2)

~ '

одной из форм закона Вульфа — Брэгга.

По верхней горизонтальной оси графика отложены значения пе­ риода решетки исследуемого материала, по нижней горизонтальной оси — угол скольжения. Кривые, идущие слева вниз направо, построены для различных излучений, причем сплошные кривые

соответствуют Аа~излучению, а штрпхпунктирные — Лф-излуче- нию данного анода. Кривые, идущие слева вверх направо, построе­ ны для различных индексов отражения, причем буква Ъ в индексе

75

показывает, что линия возникает на

рентгенограммах кристаллов

с объемноцентрированной структурой,

буква / — с гранецентриро­

ванной. Остальные индексы относятся ^ кристаллам с простой куби­ ческой решеткой.

Пример. Исследуется материал с периодом решетки, приблизи­

тельно равным 3,36 А. и с гранецентрированной кубической струк­ турой.

Из точки, соответствующей 3,36 А, на верхней горизонтальной оси графика проводим вертикальную линию. Предположим, что используется излучение медного анода. В этом случае из точки пере­

сечения вертикали с кривой для Си Аа-излучения проводим горизон­ таль до пересечения с кривыми (hk I) для гранецентрированной ре­ шетки. Абсциссы пересечений дают значения углов скольжения

для соответствующей линии. Построение, проведенное на графике,

показывает, что под наибольшими углами в этом случае получаются линии (400)а и (331)а, для которых Ф составляет соответственно 66 и 85,5°. Аналогичное построение для Си Ар-излучения позволяет получить еще три линии (331 )р, (420)р и (422)р под углами 62,5, 65,7 и 85®. Таким образом, использование графика позволяет полу­ чить данные для выбора пяти линий в интервале больших углов.

76

График предназначен для кристаллов с периодами от 2 до 10 А я углов О' от 10 до 90.*

Графики подобного типа могут быть также использованы для индицирования и определения периода решетки материалов с куби­ ческой структурой. При этом на полоску бумаги наносятся в мас­ штабе графика отметки, соответствующие углам скольжения линий на рентгенограмме. Полоска передвигается параллельно оси абсцисс

до того момента, когда отметки на полоске не совпадут с линиями индексов, что дает возможность проиндицировать рентгенограмму.

Абсцисса точки пересечения полоски и кривой для использо­ ванного излучения соответствует периоду решетки материала.

Таблица 12

Подбор наивыгоднейших условий получения рентгенограмм прецизионными методами

Исследуемый элемент (фаза)

Феррит (и мартенсит)

Аустенит

Никель

Медь

Цинк

Рекомендуемая

Длина

Рекомен­

Угол сколь­

волны излу­

дуемая для

жения (от­

спектральная

чения X

фокусирова­

ражения)

линия излучения

в кХ

ния линия

О°

 

 

 

(hkl)

 

 

Fe

1,753

(ЗЮ)

75°39'

Kai

Со

1,785

(ЗЮ)

81°25'

 

V

2,280

(211)

77°26'

•^ai

Cr

2,285

(211)

78°06'

 

CO

1,785

(400)

82°00'

^Pi

Cr

2,080

(311)

73°00'

Aai

Fe

1,932

(222)

69°00'

Aai

Cu

1,537

(420)

73°55'

tfai

Mn

2,097

(ЗИ)

80°10'

 

Cr

2,080

(ЗИ)

78°43'

*ai

v

2,498

(220)

86°10'

Kai

Cu

1,537

(420)

72°17'

Aai

Co

1,785

(400)

81°40'

A i

Cr

2,080

(222)

86°52'

Aai

Cu

1,537

(1016)

82°50'

 

 

 

(1232)

69°30'

Вольфрам

Kai

Ni

1,654

(321)

78°50'

Fe4N (у'-фаза)

 

Cu

1,537

(400)

77°10'

Fe2N (8-фаза)

Kai

Cr

2,285

(ЗИ)

77°00'

 

 

Cr

2,285

(1013)

68°30'

 

 

 

 

(1122)

80°40'

a-W2C

Ka^

Co

1,785

(2132)

79°00'

WC

 

Co

1,785

(211)

82°40'

VC

A'pi

Cu

1,389

(531)

82°00'

TiC

ЛГР1

Cu

1,389

(442)4600)

74°00'

Алюминий

Kai

Co

1,785

(420)

81°02'

 

Kax

Cu

1,537

(511)(333)

8140'

77

На графике (фиг. 27) приведено соответствующее построение для рентгенограммы материала’ с объемноцентрированной кубиче­

ской структурой, снятого на Fe Ка-излучении. Индексы линий на

рентгенограмме: (110), (200), (211), (220), (310), (222); период решетки

d = 3,70 А.

Таким образом, в общем случае пользование графиком состоит из двух этапов:

1)нахождение периода решетки по рентгенограмме, снятой без применения прецизионных методов;

2)выбор по периоду кристаллической решетки условий съемки

рентгенограммы прецизионным методом.

2. МЕТОД АСИММЕТРИЧНОЙ СЪЕМКИ

Этот метод обладает следующими преимуществами: 1) исклю­ чаются ошибки вследствие неточности измерения диаметров камеры и кассеты и усадки пленки при фотографической обработке; 2) сме­

щение линии вследствие поглощения лучей в образце исключается путем использования линий, отраженных под большими углами, где эта поправка незначительна, и использования тонких образцов с малым поглощением. Образец толщиной до 0,2 мм и менее обычно состоит из тонкого слоя порошка на волоске толщиной до 0,08 .мл из линдемановского стекла.

Рассмотрим пример определения периода решетки алюминия

методом асимметричной съемки. Съемка проводилась на Сн-излуче-

нии без фильтра (для увеличения числа линий в области больших углов). Диаметр образца 0,18 мм, температура при съемке поддер­ живалась постоянной (23,10°), диаметр камеры 57,7 мм.

Первым этапом расчета является определение эффективного диа­ метра кассеты (пленки). Затем измеряются расстояния I для линий, имеющих максимальные углы скольжения, по которым и опреде­

ляются периоды решеток.

Ход расчета

очевиден из

табл. 13.

 

 

 

 

 

 

 

 

'

Таблица 13

гм

 

 

 

sin й

 

о

 

 

ао, исправ­

 

 

 

а в

аср в

А

ленное на

 

 

 

А

 

 

 

 

 

 

 

 

 

преломление 1

(333) а.

81,2549

 

0,988374

4,04941

4,04942

4,04945

(333) а2

82,2377

0,990837

4,04943

 

 

При

применении

описанного

метода

очень

важно,

чтобы угол

О' для

последней линии

ренгтенограммы превышал

80°.

При исследовании материалов, кристаллизующихся не в куби­ ческой системе, метод асимметричной съемки применим в тех слу­ чаях, когда при угле О около 80° можно получить не менее двух ли­ ний с различными индексами и (Л2/г2/2).

78

Источник: https://tut-files.ru/previewfile/124922