Материал: Качанов Н.Н. Рентгеноструктурный анализ (поликристаллов) практическое руководство

Внимание! Если размещение файла нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам

Определение периода следует производить используя линии, рас­ положенные под наибольшими углами, так как с увеличением угла скольжения ошибка определения уменьшается.

В данном случае определение а следует вести используя линию (220).

Период решетки по линии (220) будет

«(22о) = ^^'/8 = 2,861

кХ.

Период решетки такой величины имеет

a-Fe, следовательно,

оно и является объектом исследования.

 

Индицирование рентгенограмм для тетрагональной, гексагональной и ромбоэдрической систем

Тетрагональная система. Аналитический метод индицирования

рентгенограмм тетрагональной системы основан на существовании определенных зависимостей между величинам sin2^; и индек­

сами линий (Jikl):

 

 

 

sin2 fthki = -4 (h2-\-k2)-\-Cl2.

(19)

При

/ = 0 sin2 ftioo из

формулы (19) должен

быть равен А,

sin2 О110

= 2А, sin2l>210 = ; sn^lhao = 8А и т.

д.

Если исследуемая фаза

не принадлежит к кубической системе,

то в том случае, когда отношение величин sin2 О двух первых линий под малыми углами равно 2, можно предположить, что кристалличе­ ская решетка исследуемого вещества относится к тетрагональной системе, а линии имеют индексы (100) и (110) или (110) и (200). Путем проверки этого предположения находят величину А и определяют индексы всех линий типа (ккО).

Для уяснения метода определения С рассмотрим конкретный пример: первые 9 линий на рентгенограмме соединения СиАП, обла­ дающего тетрагональной структурой, имели значения sin2d, приве­

денные в табл. S.-f.

Отношение значений sin2 Ф для линий № 1 и 2 близко к двум. Предположим, что вещество имеет тетрагональную структуру и линия № 1 имеет индексы (100), а линия № 2 — (110). Тогда А — = 0,0444; 2А = 0,0888; 4А = 0,1776; 5А = 0,2220; 8А = 0,8552.

Из сравнения этих

величин и значений sin2 О'

следует,

что

линия

№ 4 имеет индексы

(200), линия № 6 (210) и

линия

№ 9

(220).

После этого отнимают значения А, 2А,...,5А от sin2O (табл.^Ь). Если принятые индексы линий (100) и (110) являются правиль­

ными, то каждая горизонтальная строка в таблице должна содержать

значение С • 1г для соответствующей линии.

для линий № 4, 6

Например, в таблице разностей (табл. 7)

и 8 имеем соответственно значения 0,1323;

0,1316; 0,1341 или

0,1329± 0,012, а, для линий № 3, 5 и 7 этой величины нет. Предпо­

ложим, что величина 0,1329 соответствует 1 = 2. Тогда С = 0,0322. Подстановка в формулу (19) для всех линий не приводит к удовле-

40

Таблица 7

 

 

Таблица разностей

 

 

№ линии

sin2 О

Sin2 О — А

sins # —

sin2 # — 4А

sin2 О — 5 А

1

0,0445

0,0001

_

_

_

2

0,0888

0,0444

0,0000

3

0,1449

0,1005

0,0561

4

0,1767

0,1323

0,0879

5

0,1811

0,1367

0,0823

0,0035

6

0,2204

0,1760

0,1316

0,0418

7

0,2245

0,1801

0,1357

0,0469

8

0,3117

0,2673

0,2229

0,1341

0,0897

9

0,3554

0,3110

0,2668

0,1777

0,1334

творительному совпадению вычисленных и экспериментальных зна­

чения sin2 ft. Расчет для величины 0,1354

± 0,0013 по данным для

(линий № 5,7 и 8 также

не приводит к удовлетворительным резуль­

татам, следовательно, индексы линий № 1

и 2 выбраны неправильно,

Предположим, что линия № 1 имеет

индексы (НО), а линия

.№ 2 (200). Повторяя

вычисления, получаем А = 0,0222; 2А —

= 0,0444; 4Л = 0,0888;

5Л = 0,1110; 8А = 0,1776 и 9Л = 0,1998.

Разности в этом случае будут иметь значения, приведенные в табл. 8.

 

 

 

 

 

 

Таблица 8

№ линии

sin2# — А

Sin2О — 2 А

sin2# — 4А

Sin2# — 5 А

sin2# — 8А

sin2# — 9А

1

0,0223

0,0001

- -

_

_

_

2

0,0666

0,0444

0,0000

3

0,1227

0,1005

0,0561

0,0339

4

0,1545

0,1323

0,0879

0,0657

0,0035

5

0,1589

0,1367

0,0923

0,0701

0,0418

0,0206

и т. д.

 

 

 

 

 

 

Из табл. 8 следует, что для линии № 3 одна из разностей соста­

вляет 0,0339, близкую к

величине

С в первом случае.

Величина

4С (I = 2) в этом случае составляет ОД356 и близка к значению

0,1354 из таблицы.

 

 

 

 

Тацим образом, значения постоянных составляют соответственно Д = 0,0222; С = 0\0339. Для индицирования рентгенограммы остается только найти значения sin2 ft для каждого (hkl) из уравне­ ния (19) и сравнить с экспериментальными величинами.

Гексагональная система. При индицировании рентгенограмм кристаллов гексагональной системы целесообразно применять ме­ тод разностей. Зависимость между sin®ft и индексами для случая гексагональной решетки имеет вид:

 

 

sin2fth(ll = А (/?2 + hk + k2)-]-C • I2,

(20)

где А

__ X2

r _ X,2

 

 

За2

’ Ь 4С2 •

 

41

Для отражений типа (/tkQ) справедливы соотношения:

sin2^100 = .1;

sjn2ft110 = 3/1;

sin2ft200 = 4.4;

sin2^210 = 7X;

sin2ft300 = 9A;

sin2 ft220 = 12Л

и т. д.

 

 

Из этих соотношений видно, что для нескольких пар линий отноше­ ние величин sin2 д равно 3, чего не бывает па рентгенограммах веществ с тетрагональной структурой.

Следует отметить, что приведенное соотношение между sin2!! и индексами справедливо для кристаллов тригональной (ромбо­ эдрической) и гексагональной систем. Тригональную структуру имеют немногие металлические соединения, поэтому чаще рассмо­ тренное соотношение между sin2 *"О свидетельствует о принадлежности

вещества к гексагональной системе.

Однако следует отметить, что тригональную структуру имеют некоторые карбиды, в том числе карбид хрома СггзС6. Наличие три­ гональной, а не гексагональной, структуры подтверждается тем, что некоторые линии, которые должны быть на рентгенограмме веществ

с гексагональной структурой, отсутствуют.

Правило погасаний для этого случая изложено в специальных

курсах рентгеновской кристаллографии.

Ход вычисления разностей sin2!! и пндицирования аналогичен рассмотренному для тетрагональной системы.

2. ГРАФИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИНДИЦИРОВАНИЯ

Из числа предложенных методов графического пндицирования рассмотрим наиболее распространенные, применяемые для индици-

рованпя кристаллов кубической, тетрагональной и гексагональной решеток.

Кубическая система

В основе этого метода лежит зависимость угла скольжения от индексов плоскости (при данном отношении ~).

Угол скольжения, длина волны излучения, период решетки и индексы плоскостей связаны между собой зависимостью (18).

Если взять прямоугольную систему координат и по оси абсцисс

откладывать отношение -, а по оси ординат — sin "О’, то зависимость sinf} = /(^ для любой плоскости, т. е. для любой тройки ин­

дексов (hkl), может быть представлена в виде прямой липин, начи­ нающейся в начале координат. Наклон прямых будет определяться суммой квадратов индексов плоскостей.

Пользуясь таким графиком, можно индицировать рентгенограмму

кубических кристаллов.

На фиг. 12 нанесены прямые только для плоскостей кубической объемноцентрированной и гранецентрированной систем.

Ипдицирование рентгенограммы с помощью подобного графика производится следующим образом.

42

В том же порядке, как и в случае аналитического индицировапия, выполняются все операции по вычислению (операции с 1-й

по 8-ю).

Затем на полоске из твердой бумаги (ватман) в том же масштабе,

что и шкала значений синусов углов на графике, откладываются вычисленные значения si пФ.

Полоску бумаги накладывают на график так, чтобы она была параллельна оси ординат, а нулевая точка совпадала с осью абсцисс.

Затем

полоску

перемещают

 

вдоль оси абсцисс так, что­

 

бы она была перпендикуляр­

 

на к ней, а нулевая отметка

 

постоянно находилась на оси

 

абсцисс. Полоску передви­

 

гают, вдоль оси

абсцисс до

 

тех пор, пока все нанесенные

 

на ней отметки не совпадут с

 

линиями графика. Соответ­

 

ствующие индексы читают на

 

линиях графика.

фиг. 12 дан

 

На

графике

 

пример индицирования рент­

 

генограммы, расчет

которой

 

приведен в табл.

6.

Из гра­

 

фика следует, что на рентге­

 

нограмме присутствуют ли­

 

нии с индексами (011), (002),

 

(112) и (022).

 

 

генограмм кубических кристаллов.

Графический способ поз­

воляет

определять и

период

 

решетки. Положению по­

лоски бумаги с нанесенными отметками,

когда

все они

совпали с линиями графика, отвечает отношение

— 0,675,

откуда

 

 

1,934 А = 2,865 А

 

 

0,675

 

 

Следует, однако, отметить, что определение

периода

решетки

с использованием графического метода имеет сравнительно низкую точность и потому может применяться то.чько для приближенных расчетов. Более точное определение периода решетки может быть проведено по формуле (18).

Тетрагональная и гексагональная системы (по графикам Хелла)

Можно показать, что sinft каждой интерференционной линии на рентгенограммах тетрагональной и гексагональной решеток за­

висит не только от величины а, но также и от отношения — .

а

43

Источник: https://tut-files.ru/previewfile/124922